检查设备、检查方法和检查系统技术方案

技术编号:42884844 阅读:28 留言:0更新日期:2024-09-30 15:07
本发明专利技术提供了一种检查设备及其检查方法、检查系统。检查设备包括透射成像装置,配置成构建被检查对象的透射图像;和衍射检测装置,配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。衍射检测装置能够移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及安检。具体地,涉及一种检查设备、检查方法以及检查系统。


技术介绍

1、目前的安检设备满足不开包或开箱也能够快速检查物品。

2、现有的安检设备一般是射线透射成像的方式,较为先进的例如ct检查设备;然后,这类设备仍然存在可以观察大体形状而不能完全确定嫌疑物是否违禁的问题。

3、需要更加完善的设备,能够更加确定地判断被检查对象中是否包含违禁物。


技术实现思路

1、本专利技术的一方面提供一种检查设备,包括:

2、透射成像装置,配置成构建所述被检查对象的透射图像;和

3、衍射检测装置,配置成朝向被检查对象照射辐射并通过检查从被检查对象的至少一部分衍射的辐射而检测所述被检查对象的至少一部分的特性,

4、其中,透射成像装置限定检查通道,被检查对象在检查通道中被移动而被透射成像装置扫描;

5、衍射检测装置能够沿检查通道的延伸方向的横向移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。

6、在一个实施例中,所述衍射检测装置包括衍本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检查设备,包括:

2.根据权利要求1所述的检查设备,其中

3.根据权利要求2所述的检查设备,其中

4.根据权利要求3所述的检查设备,其中基于所述透射图像确定被检查对象包含嫌疑物以及嫌疑物在被检查对象上的位置,并且基于嫌疑物的位置,所述衍射辐射检测器被移动至所述特定位置以便接收经所述嫌疑物衍射的辐射以便确定所述嫌疑物部分的特性。

5.根据权利要求3所述的检查设备,其中所述特定位置大体位于所述辐射源和所述嫌疑物部分的连接线的延长线上。

6.根据权利要求2所述的检查设备,其中所述轨道为弧形轨道,使得衍射辐射检测器沿所述弧形轨道...

【技术特征摘要】

1.一种检查设备,包括:

2.根据权利要求1所述的检查设备,其中

3.根据权利要求2所述的检查设备,其中

4.根据权利要求3所述的检查设备,其中基于所述透射图像确定被检查对象包含嫌疑物以及嫌疑物在被检查对象上的位置,并且基于嫌疑物的位置,所述衍射辐射检测器被移动至所述特定位置以便接收经所述嫌疑物衍射的辐射以便确定所述嫌疑物部分的特性。

5.根据权利要求3所述的检查设备,其中所述特定位置大体位于所述辐射源和所述嫌疑物部分的连接线的延长线上。

6.根据权利要求2所述的检查设备,其中所述轨道为弧形轨道,使得衍射辐射检测器沿所述弧形轨道移动过程中衍射辐射检测器与辐射源的距离保持大体不变。

7.根据权利要求2所述的检查设备,其中所述轨道为弧形轨道,使得衍射辐射检测器沿所述弧形轨道移动过程中经衍射的辐射沿所述衍射辐射检测器的辐射接收面的法线方向入射。

8.根据权利要求2所述的检查设备,其中所述透射成像装置包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:张丽陈志强李元景黄清萍冯博张立国李桂培何志锋常铭
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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