一种测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量的方法技术

本发明专利技术涉及分析化学技术领域，具体说涉及一种测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量的方法。利用电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量，该方法测定的镧含量为0.00001%。本发明专利技术所述方法简单、快速、准确、检测成本低；而且采用本发明专利技术中限定的分析方法进行测定，可以实现以电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中超痕量稀土元素镧。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及分析化学，具体说涉及一种应用电感耦合等离子体发射光谱法准确测定纯铜中0.00001%超痕量稀土元素镧含量的方法。

技术介绍

1、稀土金属应用在铜中能实现脱氧、脱气和去除杂质、净化铜液熔体、提高铜液纯度、改善铜材的导电及耐蚀性能等作用，目前稀土铜的研究多集中在试验领域，未完全实现工业化应用。研究发现适量稀土la添加能够提高纯铜的导电性以及强度、硬度和耐磨性，但过量的la添加反而使组织粗化，因此稀土添加量及含量的准确测定是稀土铜研究中的关键因素。

2、目前，稀土元素的测定方法主要有可见分光光度法、x射线荧光光谱分析（xrf）以及电感耦合等离子体原子发射光谱法(icp-oes)、电感耦合等离子体质谱法（icp-ms）等。其中分光光度法仅能测定稀土总量，并且分析时间长，操作繁琐；xrf是单一稀土测定的重要手段之一，特别是对混合稀土试样中的稀土分量的测定，用于痕量稀土分析缺点是灵敏度低且基体效应严重；icp-oes法具有灵敏度高、检出限低、准确快速等特点，大量应用于测定金属材料中的稀土元素；icp-ms因具有质谱图相对简单等特性在痕量稀土元本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于：利用电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中0.00001%稀土元素镧。

2.根据权利要求1所述的测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于，步骤如下：

3.根据权利要求2所述的测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于：在试液中添加1%信号增强剂。

4.根据权利要求2所述的测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于，具体的仪器参数为：高频发射功率900~1100W，等离子气流量16~18L/min，辅助气流量0.30~0.50L/min，雾化气流量1.00~1.20L/min，观测方...

【技术特征摘要】

1.一种测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于：利用电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中0.00001%稀土元素镧。

2.根据权利要求1所述的测定纯铜中超痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于，步骤如下：

3.根据权利要求2所述的测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于：在...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭宏杰，李辉，张重远，李晓旭，王丹，
申请(专利权)人：中国科学院金属研究所，
类型：发明
国别省市：