非对称四聚体介质超表面折射率传感器和传感检测方法技术

技术编号:42875251 阅读:14 留言:0更新日期:2024-09-30 15:01
本发明专利技术提供了一种非对称四聚体介质超表面折射率传感器及其传感检测方法,属于超表面光学折射率传感技术领域。该折射率传感器包括玻璃衬底和介质超表面单元结构,介质超表面单元结构包括呈矩形阵列布置于所述玻璃衬底表面中心的四个方形介质块,四个方形介质块包括对角高度相同的两个第一介质块和两个第二介质块,第一介质块的高度大于第二介质块的高度。采用该非对称四聚体介质超表面折射率传感器和传感检测方法进行生物传感,能够解决相关技术中传统超表面光学折射率传感器存在的品质因数低,可靠性差的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超表面光学折射率传感,特别涉及非对称四聚体介质超表面折射率传感器及其传感检测方法。


技术介绍

1、随着微纳加工技术的不断发展,对于具有快速响应、高质量、高精度和低成本的小型化和集成化的微纳光学生物传感器的需求日益增长。二维超表面结构由于其在亚波长尺度具有较强的光场调控能力,为微纳光学折射率传感提供了一个理想平台。当超表面结构周围环境的折射率发生变化时,超表面结构共振模式的有效折射率会随之改变,在光谱中表现为共振波长的线性变化,从而实现光学折射率传感。相比传统微纳光学传感器,超表面光学折射率传感器中光与物质相互作用的效率更高,局域场增强更强,其产生的多个共振可以用于多频生物传感,且具有结构设计灵活、易于集成等优点。

2、在相关技术中,微纳光学生物传感器大多为基于表面等离激元共振技术的金属微纳光学传感器。基于表面等离激元共振技术的金属微纳光学传感器,由于金属材料的高欧姆损耗和光学损耗,导致传感器用于传感检测的透射/反射特征峰的共振线宽较宽,传感器的品质因数较低,限制了其传感性能,导致检测可靠性差。


技术实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,包括:玻璃衬底(1)和介质超表面单元结构(2),

2.根据权利要求1所述的非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,所述玻璃衬底(1)为二氧化硅材质,所述玻璃衬底(1)的折射率为1.45。

3.根据权利要求2所述的非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,所述非对称四聚体介质超表面折射率传感器包括多组周期排列的所述玻璃衬底(1)和所述介质超表面单元结构(2),所述玻璃衬底(1)呈长方体结构,所述玻璃衬底(1)在第一方向的周期长度为1000nm,所述玻璃衬底(1)在与所述第一方向垂直的第二方向的周期...

【技术特征摘要】

1.一种非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,包括:玻璃衬底(1)和介质超表面单元结构(2),

2.根据权利要求1所述的非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,所述玻璃衬底(1)为二氧化硅材质,所述玻璃衬底(1)的折射率为1.45。

3.根据权利要求2所述的非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,所述非对称四聚体介质超表面折射率传感器包括多组周期排列的所述玻璃衬底(1)和所述介质超表面单元结构(2),所述玻璃衬底(1)呈长方体结构,所述玻璃衬底(1)在第一方向的周期长度为1000nm,所述玻璃衬底(1)在与所述第一方向垂直的第二方向的周期长度为1000nm。

4.根据权利要求3所述的非对称四聚体介质超表面折射率传感器,其特征在于,所述第一介质块(211)和所述第二介质块(212)的边长相等,且边长范围...

【专利技术属性】
技术研发人员:杜庆国屠世娟田羿张磊于泉毕凯
申请(专利权)人:巴沃镇江光电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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