【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
各种实施例总体上涉及填充度量(fill metrics)监测。
技术介绍
0、背景
1、在各种过程期间,空间的填充可以改变。例如,纸箱可以装满包裹。产品可以堆放到托盘上(例如,在运输货物之前),或者从一个或更多个托盘上卸下(例如,在接收到货物之后)。机加工操作可以填满芯片抽屉(chip drawer)。储液罐(例如,桶、罐、转移罐)可以例如被填满和排空。
2、处理设施可以例如监测空间中的物品。传感器可以例如测量到对象的距离。传感器可以例如生成多个距离的点云。
技术实现思路
0、概述
1、装置和相关方法涉及使用三维飞行时间(3d tof)相机的体积测量系统。在说明性示例中,vms可以包括用于监测感兴趣区域(roi)中的对象的体积的至少一个3d距离传感器单元。例如,vms可以包含包括roi的一组用户定义的参数,以及与roi相关联的测量属性的时间分布。在一些实施方式中,vms可以被激活以自动生成一组经误差补偿的体积度量。例如,vms可以将3d轮廓(profil
...【技术保护点】
1.一种体积测量系统,包括:
2.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述操作还包括:
3.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括:
4.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括最小间隙尺寸标准,使得当两个对象之间的间隙小于所述最小间隙尺寸标准时,忽略所述间隙。
5.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括曲线平滑函数,以补偿从所述至少一个3D ToF传感器角度看被遮挡的对象表面。
6.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包
7...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种体积测量系统,包括:
2.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述操作还包括:
3.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括:
4.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括最小间隙尺寸标准,使得当两个对象之间的间隙小于所述最小间隙尺寸标准时,忽略所述间隙。
5.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括曲线平滑函数,以补偿从所述至少一个3d tof传感器角度看被遮挡的对象表面。
6.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述误差补偿模型包括:
7.根据权利要求1所述的体积测量系统,其中,所述一组预先确定的填充水平警告标准包括体积标准、高度标准和计数标准。
8.一种体积测量系统,包括:
9.根据权利要求8所述的体积测量系统,其中,所述操作还包括:
10.根据权利要求8所述的体积测量系统,其中,所述距离传感器包括3d飞行时间(tof)传感器。
11.根据权利要求8所述的体积测量系统,其中,所述3d轮廓包括点云。
12.根据权利要求8所述的体积测量系统,其中,所述对象包括分立的对象。...
【专利技术属性】
技术研发人员:阿什利·怀斯,布拉德·特罗斯塔德,布伦特·伊万格,
申请(专利权)人:邦纳工程公司,
类型:发明
国别省市:
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