【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及放射性能谱分析，尤其涉及一种非对称高斯函数提取放射性能谱重峰面积的方法。
技术介绍
1、放射性能谱分析在核电站辐射环境监测、铀矿地质勘探以及乏燃料放射性废物处理与处置等相关场景中有着广泛的应用。由于放射性能谱分析过程中会存在放射性核素种类多、特征能量多的复杂样品，其解析的难点在于存在重峰干扰，因此准确解析出重峰的面积能够准确定量核素的含量。
2、目前，对于放射性能谱数据的研究主要集中于单个特征能峰数据的解析，例如通用的商业软件gammavision、genie2000和hyperlab等，均在单个特征能峰解析上有很好的应用。而对于多个特征能峰的重峰解析研究比较少，现有的重峰解析方法主要通过对称高斯模型进行数据拟合解析，但当重峰左右非对称时，则无法实现准确的重峰解析。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于解决由于现有的重峰解析方法采用对称高斯模型进行数据拟合解析，导致在特征能峰左右非对称时，无法实现准确的重峰解析的技术问题，而提供一种非对称高斯函数提取放射性能谱重
【技术保护点】
1.一种非对称高斯函数提取放射性能谱重峰面积的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种非对称高斯函数提取放射性能谱重峰面积的方法，其特征在于，步骤5具体为：
3.根据权利要求2所述的一种非对称高斯函数提取放射性能谱重峰面积的方法，其特征在于：
【技术特征摘要】
1.一种非对称高斯函数提取放射性能谱重峰面积的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种非对称高斯函数提取放射性...
【专利技术属性】
技术研发人员：余青江，倪建忠，李雪松，余功硕，王春杰，张小林，康泰，张云鹤，马锌宇，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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