冗余采样校验方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:42804047 阅读:30 留言:0更新日期:2024-09-24 20:48
本发明专利技术公开了一种基于时频信息的冗余采样校验方法、装置、设备及存储介质。方法包括以下步骤:通过冗余双通道采样回路采集电气量信号,获取通道一和通道二的采样序列以及通道一和通道二的当前采样值;根据所述通道一和通道二的当前采样值计算双通道采样差值;对所述通道一和通道二的采样序列进行时频变换获得通道一和通道二的频域采样序列;根据所述通道一和通道二的频域采样序列计算双通道采样制动值;当所述双通道采样差值和双通道采样制动值满足预设条件时,确定冗余双通道采样校验不通过,否则认为冗余双通道采样校验通过。本发明专利技术所述方法可快速判断出双通道采样不一致情况,灵敏度高,且不受硬件回路低通特性的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电力系统继电保护领域,尤其涉及一种基于时频信息的冗余采样校验方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、电力系统常规采样通常指电力系统二次设备通过采样回路采集常规电压、电流互感器输出的二次值,是目前最常用的一种采样形式。在重要的继电保护设备中,还需要采用冗余双通道采样的方式对采样值进行校验,以提高采样数据的可靠性。

2、由于电力系统二次设备的采样频率有限,因此在将模拟量转换为数字量时,通常要先经过一个硬件的低通滤波回路,防止高频分量产生频率混叠。通过分析采样硬件回路可知,冗余双通道的采样回路应完全一致,但是各元器件的性能差异会导致其输出结果有微小差异。因此,可以认为在采样回路元器件参数正常误差范围内造成的采样数据差异均为采样正常情况,其它情况可认为是采样异常。造成采样异常的原因很多,包括采样回路元器件异常,如元器件参数异常或类型不一致,采样回路短路和断路,甚至采样a/d芯片工作异常等。目前常用的冗余采样值校验方法主要是通过比较冗余双通道的瞬时采样值以及幅值差异,并通过长延时来判别。但是,在一些特殊工况下,如相位差异较小等,该方法灵本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于时频信息的冗余采样校验方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过冗余双通道采样回路采集电气量信号,获取通道一和通道二的采样序列以及通道一和通道二的当前采样值,包括:

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述通道一和通道二的当前采样值计算双通道采样差值,具体为:

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述时频变换包括:离散傅里叶变换、S变换和希尔伯特黄变换。

5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述通道一和通道二的采样序列进行时频变换获得通道一和通道二的频域采样序列中...

【技术特征摘要】

1.一种基于时频信息的冗余采样校验方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过冗余双通道采样回路采集电气量信号,获取通道一和通道二的采样序列以及通道一和通道二的当前采样值,包括:

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述通道一和通道二的当前采样值计算双通道采样差值,具体为:

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述时频变换包括:离散傅里叶变换、s变换和希尔伯特黄变换。

5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述通道一和通道二的采样序列进行时频变换获得通道一和通道二的频域采样序列中,所述时频变换采用离散傅里叶变换时,通道一和通道二的频域采样序列计算式为:

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述通道一和通道二的频域采样序列计算双通道采样制动值,包括:

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙仲民张晓宇吕航顾乔根莫品豪郑超
申请(专利权)人:南京南瑞继保电气有限公司
类型:发明
国别省市:

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