一种用于改善静区测试性能的低散射转台及静区测试方法技术

本发明专利技术公开了一种用于改善静区测试性能的低散射转台及静区测试方法，涉及静区测试技术领域。所述低散射转台包括L型挡板、菱形斜劈支撑柱、底板、转台底座、固定块、纵向旋转轴和横向旋转轴。本发明专利技术采用菱形斜劈支撑柱，降低了尖劈绕射和行波散射效应；菱形斜劈支撑柱中采用多层侧边吸波材料布局，能够在广泛的频率范围内有效减少电磁反射和散射；通过在L型挡板的边缘添加锯齿吸波材料，降低了电磁波的反射强度，提高了整体吸波效率；采用椭圆形底板，降低了测量误差。将本发明专利技术设计的低散射转台应用到静区测试中，实验结果表明，本发明专利技术改进后的转台有效提升了静区测试系统的准确性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及静区测试，尤其涉及一种用于改善静区测试性能的低散射转台及静区测试方法。

技术介绍

1、近年来，紧缩场(compact antenna test range，catr)在国内发展迅速。紧缩场技术指在近距离上实现天线参数或雷达目标散射特性远场测量的技术，目前是天线和测量领域的重要课题，是解决毫米波等高频天线测试困难的有效方法。所谓静区是指微波暗室内受杂散波干扰最小的区域，也就是在短波通信中，自发射天线数十公里以外直至电离层把电波反射回地面以前的一个区域。由此可以看出，静区的性能指标对电磁散射测量非常重要。

2、在低散射目标的设计和测试过程中，金属支架作为目标支撑结构不可避免地会对电磁波产生反射和散射。特别是在静区测试中，转台的反射性能对实验结果有着至关重要的影响。传统的转台设计主要依赖于经验和理论计算，其未能充分考虑实际环境中的多种因素，尤其是静区内的电磁波反射对测试结果的影响。有些转台虽然已经在一定程度上减少了不必要的反射，但其设计仍存在一定的缺陷，导致静区测试结果的准确性受到影响。因此，如何减小支撑结构对电磁散射测量的影响，成为一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，包括：L型挡板（1）、菱形斜劈支撑柱（2）、底板（3）、转台底座（4）、固定块（5）、纵向旋转轴（6）、横向旋转轴（7）；其中，

2.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述锯齿状吸波材料采用磁性复合屏蔽层。

3.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述锯齿状吸波材料中每个锯齿在不同水平位置时的高度表示为：

4.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述菱形斜劈支撑柱（2）包括多段菱形斜劈，每段的长度...

【技术特征摘要】

1.一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，包括：l型挡板（1）、菱形斜劈支撑柱（2）、底板（3）、转台底座（4）、固定块（5）、纵向旋转轴（6）、横向旋转轴（7）；其中，

2.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述锯齿状吸波材料采用磁性复合屏蔽层。

3.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述锯齿状吸波材料中每个锯齿在不同水平位置时的高度表示为：

4.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述菱形斜劈支撑柱（2）包括多段菱形斜劈，每段的长度计算公式如下：

5.根据权利要求1所述的一种用于改善静区测试性能的低散射转台，其特征在于，所述多层吸波材料中每一层吸波材料的厚度、介电常数、磁导率不同;其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李秀成，周华，姜国凯，冯家煦，邹博维，田晓笛，温泉，秦孔建，赵肖龙，吴飞燕，樊金娜，刘娇杨，杨志强，武丹丹，王宇，孙文军，
申请(专利权)人：中汽研汽车检验中心天津有限公司，
类型：发明
国别省市：