一种TEV脉冲采样计数方法技术

技术编号:42753643 阅读:19 留言:0更新日期:2024-09-18 13:43
本发明专利技术公开了一种TEV脉冲采样计数方法,涉及脉冲采样计数方法技术领域,包括以下步骤,在欠采样条件下采集TEV信号,采样率设为250K;对采集的TEV数据进行降采样,降至5000个数据点;基于TEV数据绘制的PRPD图,通过DBSCAN算法对TEV数据绘制的PRPD图中的数据点进行聚类,一类为底噪,另一类为潜在局放点,剔除底噪的数据点,保留潜在局放点。本发明专利技术解决了欠采样条件下如何实现对TEV脉冲数量的统计,对基于TEV检测方式的设备的小型化实用化具有重要意义,并显著提高干扰点去除的准确性和全面性,可以更好的统计出TEV脉冲数量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及脉冲采样计数方法,具体为一种tev脉冲采样计数方法。


技术介绍

1、dbscan是一种基于密度的聚类算法,与传统的k-means算法相比dbscan可以发现任意形状的聚类簇,而且在聚类的同时还可以找出异常点,对于稠密的数据集聚类效果较好。在基于tev局放检测方法中,tev计数是一种重要的参考依据,可根据脉冲数量直观的判断局放严重程度。但由于tev信号的频段分布在3-100mhz内,难以兼顾无失真采样和较小尺寸的采样设备,因此目前主流的做法是采用欠采样的方式采集tev信号,但这就会造成各种成熟的信号分析方法失效难以使用,如何在欠采样的情形下较为准确的统计出tev脉冲数量成为一大难题。

2、在正弦波电压波形中,90度和270度分别代表电压波形从负峰值向正峰值(或相反)变化的瞬间。这两个相位点附近,电压的瞬时值变化较快,因此容易导致绝缘系统中局部电场的集中和增强,从而引发局部放电,即局放通常发生在90度或270度附近,因此存在局放时从prpd图出可明显的发现某个相位附近出现数据点集聚的现象,因此采用基于密度的dbscan算法可以较好的区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种TEV脉冲采样计数方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种TEV脉冲采样计数方法,其特征在于,对采集的TEV数据进行降采样,降至5000个数据点具体为:

3.根据权利要求1所述的一种TEV脉冲采样计数方法,其特征在于,加窗,沿相位滑动统计窗内满足要求数据点数量具体为:

4.根据权利要求3所述的一种TEV脉冲采样计数方法,其特征在于,根据窗内数据点数量及幅值维度整合分析对各窗内数据点进行筛选具体包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的一种TEV脉冲采样计数方法,其特征在于,计算各个窗内满足幅值阈值的数据点数量与总...

【技术特征摘要】

1.一种tev脉冲采样计数方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种tev脉冲采样计数方法,其特征在于,对采集的tev数据进行降采样,降至5000个数据点具体为:

3.根据权利要求1所述的一种tev脉冲采样计数方法,其特征在于,加窗,沿相位滑动统计窗内满足要求数据点数量具体为:

4.根据权利要求3所述的一种tev脉冲采样计数方法,其特征在于,根据窗内数据点数量及幅值维度整合分析对各窗内数据点进行筛选具体包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的一种tev脉冲采样计数方法,其特征在于,计算各个窗内满足幅值阈值的数据点数量与总量比值的阈值差值具体为:

6.根据权利要求5所述的一种tev脉冲采样计数方法,其特征在于,计算各窗内数据点幅值的稳定系数的均值差值具体为:

7.根据权利要求6所述的一种tev脉冲采样...

【专利技术属性】
技术研发人员:管保柱张鑫吴路明
申请(专利权)人:南京富华新能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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