【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学扫描组件,特别是一种利用时变磁力和劳伦兹力来驱动的光学扫描组件。
技术介绍
在现今微机电(Micro electro mechanical system,MEMS)的
中,目前已 发展出一种光学组件扫描微镜(Micro Sca皿ing Mirror),而这种光学组件可以应用在扫 描仪(scanner)、条形码机(bar code)以及投影机(projector)中。 目前应用在投影机中的扫描微镜有多种类型,其中一种类型为循序扫描式 (raster-scanned)扫描微镜。这种类型的扫描微镜通常应用在虚拟投影机(virtual projector)以及激光投影机(laser projector)中。 详细而言,循序扫描式扫描微镜通常包括一镜面组件,其可以反射投影光源所发 出的光线。镜面组件可以沿着二个互相垂直的转轴来摆动,以至于镜面组件能将其所反射 的光线作水平方向扫描与垂直方向扫描。通过水平方向扫描与垂直方向扫描,镜面组件所 反射的光线得以投射在屏幕上,并且形成影像。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种应用在投影机中光学扫描组件。 为了实现上述目的,本专利技术公开了一种光学扫描组件,包括一基板、一驱动组件以及一光反射组件。驱动组件配置于基板上,并具有一第一开口。驱动组件能受一时变磁力(time-varied magnetic force)的驱动而沿着一第一转轴摆动。光反射组件具有一反射面,并配置在第一开口内。光反射组件能受一劳伦兹力的驱动沿着一第二转轴摆动。第一转轴实质上与第二转轴垂直,而第一转轴与第二转轴 ...
【技术保护点】
一种光学扫描组件,其特征在于,包括:一基板;一驱动组件,配置于该基板上,并具有一第一开口,该驱动组件能受一时变磁力的驱动而沿着一第一转轴摆动;以及一光反射组件,具有一反射面,并配置于该第一开口内,该光反射组件能受一劳伦兹力的驱动沿着一第二转轴摆动,其中该第一转轴实质上与该第二转轴垂直,该第一转轴与该第二转轴实质上与该反射面平行。
【技术特征摘要】
一种光学扫描组件,其特征在于,包括一基板;一驱动组件,配置于该基板上,并具有一第一开口,该驱动组件能受一时变磁力的驱动而沿着一第一转轴摆动;以及一光反射组件,具有一反射面,并配置于该第一开口内,该光反射组件能受一劳伦兹力的驱动沿着一第二转轴摆动,其中该第一转轴实质上与该第二转轴垂直,该第一转轴与该第二转轴实质上与该反射面平行。2. 如权利要求1所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的驱动组件包括一框体以及 一线圈线路,该线圈线路配置在该框体上,并围绕该第一开口 。3. 如权利要求1所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的基板为一硅基板、一玻璃基 板或一电路板。4. 如权利要求2所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的基板具有一第二开口 ,该框 体位于该第二开口处。5. 如权利要求2所述的光学扫描组件,其特征在于,还包括一对第一扭转臂,各该第一 扭转臂连接于该框体与该基板之间,且这些第一扭转臂均位于该第一转轴。6. 如权利要求5所述的光学扫描组件,其特征在于,还包括一对第二扭转臂,各该第二 扭转臂连接于该框体与该光反射组件之间,且这些第二扭转臂均位于该第二转轴。7. 如权利要求2所述的光学扫描组件,其特征在于,还包括一配置于该驱动组件下方 的第一磁场产生装置,其中该时变磁力形成于该第一磁场产生装置与该驱动组件之间。8. 如权利要求7所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的第一磁场产生装置为一线圈。9. 如权利要求7所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的框体的内部存在一内部磁 场,该内部磁场的方向实质上与该第二转轴平行。10. 如权利要求9所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的框体的材质为一铁磁性材 料或亚铁磁性材料。11. 如权利要求9所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的框体为一永久磁铁。12. 如权利要求9所述的光学扫描组件,其特征在于,还包括一驱动磁场产生装置,该 线圈线路与该驱动磁场产生装置之间产生该劳伦兹力,该光反射组件能受该劳伦兹力的驱 动而沿着该第二转轴摆动。13. 如权利要求12所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的驱动磁场产生装置包括 一对第一磁铁,而这些第一磁铁之间产生一第一磁场,以产生该劳伦兹力。14. 如权利要求13所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的第一磁场感应出该内部 磁场。15. 如权利要求14所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的第一磁场的方向与该第 一转轴之间呈一夹角,而该夹角实质上等于45度。16. 如权利要求13所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的第一磁场的方向实质上 与该第一转轴平行。17. 如权利要求16所述的光学扫描组件,其特征在于,还包括一第二磁场产生装置,该 第二磁场产生装置产生一第二磁场,而该第二磁场感应出该内部磁场。18. 如权利要求17所述的光学扫描组件,其特征在于,所述的第二磁场产生装置包括 一对第二磁铁,该第二磁场产生于这些第二磁铁...
【专利技术属性】
技术研发人员:周明杰,张平,李鸿忠,陈重德,
申请(专利权)人:财团法人工业技术研究院,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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