芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:42724135 阅读:20 留言:0更新日期:2024-09-13 12:10
本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质以及程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术领域。具体实现方案为:根据用于芯片验证的验证信息,生成多个待验证任务,多个待验证任务的每个待验证任务各自包括指令以及与指令相关的验证数据,多个待验证任务对应的取指地址相同;基于取指地址,获取多个待验证任务的多个指令和多个验证数据;以及利用多个指令和多个验证数据执行多个待验证任务,得到验证结果。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及计算机,尤其涉及芯片。


技术介绍

1、随着人工智能的兴起,对芯片处理器的算力需求也随之提升。在面对具有较大运算量的计算任务时,由于运算量过大,难以发现芯片处理器的运算异常。因此,为了保证芯片处理器能够连续且稳定地运行,对芯片处理器进行多核运行场景的验证尤为重要。


技术实现思路

1、本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。

2、根据本公开的一方面,提供了一种芯片验证方法,包括:根据用于芯片验证的验证信息,生成多个待验证任务,多个待验证任务的每个待验证任务各自包括指令以及与指令相关的验证数据,多个待验证任务对应的取指地址相同;基于取指地址,获取多个待验证任务的多个指令和多个验证数据;以及利用多个指令和多个验证数据执行多个待验证任务,得到验证结果。

3、根据本公开的另一方面,提供了一种芯片验证装置,包括:仿真器;模拟器;以及处理器,配置为:根据用于芯片验证的验证信息,生成多个待验证任务,多个待验证任务的每个待验证任务各自包括指令以及与指令相关的验证数据,多个本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片验证方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个待验证任务包括N个待验证任务,N为大于1的整数;所述根据用于芯片验证所需的验证信息,生成多个待验证任务包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述编译所述验证信息,得到第1待验证任务包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述根据所述取指地址、与所述第n待验证任务相关的第n指令和与所述第n指令相关的第n验证数据,生成所述第n待验证任务包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述基于随机参数,生成与所述第n指令相关的第n验证数据包括:p>

6.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种芯片验证方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个待验证任务包括n个待验证任务,n为大于1的整数;所述根据用于芯片验证所需的验证信息,生成多个待验证任务包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述编译所述验证信息,得到第1待验证任务包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述根据所述取指地址、与所述第n待验证任务相关的第n指令和与所述第n指令相关的第n验证数据,生成所述第n待验证任务包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述基于随机参数,生成与所述第n指令相关的第n验证数据包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于所述取指地址,获取所述多个待验证任务的多个指令和多个验证数据包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述利用所述多个指令和多个验...

【专利技术属性】
技术研发人员:向秋东郭文平
申请(专利权)人:昆仑芯北京科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1