电路板的缺陷检测方法、电子设备和存储介质技术

技术编号:42703726 阅读:32 留言:0更新日期:2024-09-13 11:57
本申请提供一种电路板的缺陷检测方法、电子设备和存储介质,缺陷检测方法包括:获取在检电路板的关联映射数据;其中,关联映射数据是与在检电路板上第一缺陷图像对应的第一缺陷向量和缺陷标签之间映射关系;基于在检电路板的产品型号,确定至少一个待检电路板;获取与各待检电路板上第二缺陷图像对应的第二缺陷向量;基于关联映射数据,确定与第二缺陷向量对应的缺陷标签。通过上述缺陷检测方法,可以通过当前在检测的电路板的第一缺陷向量和缺陷标签之间的映射关系,确定与在检电路板同型号的等待检测的电路板的缺陷标签,也即利用在检电路板的在线数据,确定待检电路板的缺陷标签,提高对电路板缺陷检测的效率和准确率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及缺陷检测,特别是电路板的缺陷检测方法、电子设备和存储介质


技术介绍

1、印刷电路板(printed circuit board,pcb)作为电子元器件电气连接的载体,通过其上安装的多个元件,以及这些元件之间预设的逻辑电路连接关系来实现特定的电路功能。但是,印刷电路板在生产过程中受很多外界因素(温度、材料等)的影响,容易出现电路板存在各种缺陷(如短路、断路、毛刺、缺损),如果不能够在生产过程中及时的找出这些生产缺陷,那么在后期使用的过程中,势必会造成更大的损失。

2、最早的pcb板缺陷检测的方法依赖于人工目测,该方法是由操作人员借助放大镜或校准的显微镜通过肉眼检测pcb板是否存在缺陷。但是,上述方法完全依赖于肉眼的检测结果,费时费力,且自动化程度较差。为了解决上述技术问题,相关技术提供了一种基于自动光学检测设备进行pcb板缺陷检测的方法,然而,基于自动光学检测设备进行pcb板缺陷检测的方法,一定程度上仍然需要人工根据每种pcb产品的特定质检标准来筛选检测设备报警的缺陷点中的不合格缺陷点。

3、常见的筛选不合格缺陷点的方法为本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电路板的缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取在检电路板的关联映射数据;其中,所述关联映射数据是与所述在检电路板上第一缺陷图像对应的第一缺陷向量和缺陷标签之间映射关系,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一缺陷图像,确定与各所述第一缺陷图像对应的第一缺陷向量和缺陷标签,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述缺陷标签包括关注和不关注;

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述关联映射数据,确定与所述第二缺陷向量对应的缺陷标签...

【技术特征摘要】

1.一种电路板的缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取在检电路板的关联映射数据;其中,所述关联映射数据是与所述在检电路板上第一缺陷图像对应的第一缺陷向量和缺陷标签之间映射关系,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一缺陷图像,确定与各所述第一缺陷图像对应的第一缺陷向量和缺陷标签,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述缺陷标签包括关注和不关注;

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述关联映射数据,确定与所述第二缺陷向量对应的缺陷标签,包括:

6.根据权利要求4或5任一项所述方法,其特征在于,所述计算所述第二缺陷向量...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱宇轩张长水曹沿松陈龙
申请(专利权)人:宁波微纳清科智能技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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