一种显示面板AOI检测的预对位方法及系统技术方案

技术编号:42689285 阅读:37 留言:0更新日期:2024-09-10 12:38
本发明专利技术公开了一种显示面板AOI检测的预对位方法及系统,方法包括:提供一种预对位装置,包括相机、处理模块及移动机构;利用处理模块控制相机获取测试治具上的显示面板的显示图像,并计算显示图像的第一中心坐标;对显示图像进行阈值分割,获取显示图像的显示区域的第二中心坐标;处理模块根据第一中心坐标与第二中心坐标的第一像素距离调整相机,使相机的视野中心与显示区的中心重合。通过控制预对位装置移动机构移动相机,使相机的视野中心与显示区域的中心重合,节省了人力成本及时间成本,提高了AOI检测效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示屏aoi检测,特别涉及一种显示面板aoi检测的预对位方法及系统。


技术介绍

1、薄膜晶体管液晶显示器(thin film transistor-liquid crystal display,tftlcd)由于具有画面稳定、图像逼真、消除辐射、节省空间以及节省能耗等优点,被广泛应用于电视、手机、显示器等电子产品中,已占据了平面显示领域的主导地位。

2、液晶显示面板点灯aoi系统,是现代液晶显示面板生产质量管理中必不可少的重要环节。点灯aoi系统主要适用于cell(灌装)段与module(模组)段的液晶显示面板点灯画面质量检测,主要用以检测mura(不均)、particle(微粒)以及异物等,从而提升产品的良率

3、但是在液晶显示面板缺陷检测时,显示面板产品的产品型号经常变换,产品型号不同,产品尺寸规格也不一样,并不能保证所有不同型号的液晶显示面板的显示区中心点都在相机视野的中心点,这会导致显示屏显示区发射出来的光部分无法进入相机,造成相机成像显示不均匀。再者,因液晶显示面板本身存在断差,造成显示区边缘出现阴影。...

【技术保护点】

1.一种显示面板AOI检测的预对位方法,特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的显示面板AOI检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤100包括:

3.根据权利要求2所述的显示面板AOI检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤200包括:

4.根据权利要求3所述的显示面板AOI检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤200还包括:

5.根据权利要求2所述的显示面板AOI检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤300包括:

6.根据权利要求5所述的显示面板AOI检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤400包括:>

7.一种显示...

【技术特征摘要】

1.一种显示面板aoi检测的预对位方法,特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的显示面板aoi检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤100包括:

3.根据权利要求2所述的显示面板aoi检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤200包括:

4.根据权利要求3所述的显示面板aoi检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤200还包括:

5.根据权利要求2所述的显示面板aoi检测的预对位方法,其特征在于,所述步骤300包括:

6.根据权利要求5所述的显示面板aoi检测的预对...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒲大杭
申请(专利权)人:信利光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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