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一种高灵敏度光机械加速度传感器及测量方法技术

技术编号:42685502 阅读:66 留言:0更新日期:2024-09-10 12:33
本发明专利技术涉及光机械加速度传感器技术领域,具体是一种高灵敏度光机械加速度传感器及测量方法。本发明专利技术解决了现有光机械加速度传感器测量灵敏度较低、测量精度较低的问题。一种高灵敏度光机械加速度传感器,包括第一分布反馈式半导体激光器、电光调制器、掺铒光纤放大器、第二分布反馈式半导体激光器、光纤耦合器、光环行器、封装盒、低通滤波器、光电探测器、示波器、频谱仪、计算机、PID控制器;封装盒的顶壁贯通开设有透光微孔;封装盒的内腔封装有敏感单元;所述敏感单元包括两个底硅层、两个氧化层、三个顶硅层、三个顶二氧化硅层、石墨烯薄膜。本发明专利技术适用于加速度信号的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光机械加速度传感器,具体是一种高灵敏度光机械加速度传感器及测量方法


技术介绍

1、光机械加速度传感器因其具有抗干扰能力强的优点,而被广泛应用于加速度信号的测量。然而在实际应用中,现有光机械加速度传感器由于自身结构所限,存在如下问题:其一,现有光机械加速度传感器的敏感单元的位移灵敏度较低,导致其无法实现微弱加速度信号的准确测量,由此导致其测量灵敏度较低。其二,现有光机械加速度传感器在工作过程中,其光路中存在较大的噪声和漂移,由此导致其测量精度较低。基于此,有必要专利技术一种高灵敏度光机械加速度传感器及测量方法,以解决现有光机械加速度传感器测量灵敏度较低、测量精度较低的问题。


技术实现思路

1、本专利技术为了解决现有光机械加速度传感器测量灵敏度较低、测量精度较低的问题,提供了一种高灵敏度光机械加速度传感器及测量方法。

2、本专利技术是采用如下技术方案实现的:

3、一种高灵敏度光机械加速度传感器,包括第一分布反馈式半导体激光器、电光调制器、掺铒光纤放大器、第二分布反馈式半导体本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高灵敏度光机械加速度传感器,其特征在于:包括第一分布反馈式半导体激光器(1)、电光调制器(2)、掺铒光纤放大器(3)、第二分布反馈式半导体激光器(4)、光纤耦合器(5)、光环行器(6)、封装盒(7)、低通滤波器(13)、光电探测器(14)、示波器(15)、频谱仪(16)、计算机(17)、PID控制器(18);

2.根据权利要求1所述的一种高灵敏度光机械加速度传感器,其特征在于:还包括信号发生器(19)、功率放大器(20)、压电激振器(21)、标准加速度计(22)、模数转换器(23);信号发生器(19)的信号输出端通过功率放大器(20)与压电激振器(21)的信号输入端连...

【技术特征摘要】

1.一种高灵敏度光机械加速度传感器,其特征在于:包括第一分布反馈式半导体激光器(1)、电光调制器(2)、掺铒光纤放大器(3)、第二分布反馈式半导体激光器(4)、光纤耦合器(5)、光环行器(6)、封装盒(7)、低通滤波器(13)、光电探测器(14)、示波器(15)、频谱仪(16)、计算机(17)、pid控制器(18);

2.根据权利要求1所述的一种高灵敏度光机械加速度传感器,其特征在于:还包括信号发生器(19)、功率放大器(20)、压电激振器(21)、标准加速度计(22)、模数转换器(23);信号发生器(19)的信号输出端通过功率放大器(20)与压电激振器(21)的信号输入端连接;封装盒(7)和标准加速度计(22)均固定于压电激振器(21)的上表面;标准加速度计(22)的信号输出端通过模数转换器(23)与计算机(17)的信号输入端连接。

3.根据权利要求1所述的一种高灵敏度光机械加速度传感器,其特征在于:第一分布反馈式半导体激光器(1)的中心波长为405nm;第二分布反馈式半导体激光器(4)的中心波长为633nm。

4.根据权利要求1所述的一种高灵敏度光机械加速度传感器,其特征在于:封装盒(7)的内壁贴附有采用铁磁合金制成的屏蔽箔层;封装盒(7...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘文耀谷妍霞邢恩博刘来周彦汝唐军刘俊
申请(专利权)人:中北大学
类型:发明
国别省市:

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