接触式传感器和接触式传感器的控制方法、以及程序技术

技术编号:4266090 阅读:233 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术的接触式传感器和接触式传感器的控制方法及程序用少的静电电容传感器数以连续值高精度地检测配置了静电电容传感器的接触区域中物体接触或靠近的位置。强度取得单元取得由静电电容传感器(21-1)至(21-4)检测出的静电电容的变化强度作为对第1象限至第4象限环状配置时的检测结果。水平方向计算单元从第1象限与第4象限的检测结果之和减去第2象限和第3象限的检测结果之和,以计算物体接触或靠近的位置的水平方向的检测位置。垂直方向计算单元从第1象限与第2象限的检测结果之和减去第3象限和第4象限的检测结果之和,以计算物体接触或靠近的位置的垂直方向的检测位置。位置输出单元输出物体接触或靠近的位置的水平方向和垂直方向的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及接触式传感器和接触式传感器的控制方法、以及程序,特别 涉及可用较少的传感器数量高精度地检测连续的接触位置或者靠近位置的接 触式传感器和接触式传感器的控制方法、以及程序。
技术介绍
一般普及了滑块(slider)方式的接触式传感器。滑块方式的接触式传感 器有如下的传感器检测有连续地接触或者靠近的位置,并根据其移动量, 例如使图像沿上下左右滚动(scroll )。更具体地说,例如提出了如下的传感器,在假想X、 Y轴上配置电极部 Dx+、 Dx-、 Dy+、 Dy-,检测各自中产生的漂移电容,取电极部Dx+、 Dx-的漂移电容的差作为与其对应的x轴方向的电压值,取电极部Dy+、 Dy-的 漂移电容的差作为与其对应的Y轴方向的电压值,从而检测位置,并根据其 移动量使图像滚动(参照专利文献1 )。此外,提出了从多个电极的各个信号判断电容(capacitance),并判断输 入对象的位置信息的传感器。作为位置算法,应用2次拟合法、重心插补法 等,通过极坐标求位置(参照专利文献2)。专利文献1:(曰本)特开平08-194578号公报专利文献2:(日本)特开2005-522797号公本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种接触式传感器,包括: 多个检测部件,包含传感器,该传感器对至少被分割为4个以上的连续的接触区域的每一个检测由物体的接触或靠近引起的静电电容的变化; 取得部件,在对应于所述检测部件的配置对第1象限至第4象限环状配置了第1检测结 果、第2检测结果、第3检测结果以及第4检测结果时,取得其作为所述第1象限至第4象限的检测结果,其中,所述第1检测结果是检测了由所述检测部件检测出的静电电容的变化最大的值的所述检测部件的检测结果;所述第2检测结果以及第3检测结果是与检测了所述第1检测结果的检测部件相邻的检测部件的检测结果;所述第4检测结果是与所述第2检测结果以及第3检测结果中的其中...

【技术特征摘要】
JP 2008-1-17 007629/081、一种接触式传感器,包括多个检测部件,包含传感器,该传感器对至少被分割为4个以上的连续的接触区域的每一个检测由物体的接触或靠近引起的静电电容的变化;取得部件,在对应于所述检测部件的配置对第1象限至第4象限环状配置了第1检测结果、第2检测结果、第3检测结果以及第4检测结果时,取得其作为所述第1象限至第4象限的检测结果,其中,所述第1检测结果是检测了由所述检测部件检测出的静电电容的变化最大的值的所述检测部件的检测结果;所述第2检测结果以及第3检测结果是与检测了所述第1检测结果的检测部件相邻的检测部件的检测结果;所述第4检测结果是与所述第2检测结果以及第3检测结果中的其中一个的所述检测结果的检测部件相邻且并非检测了第1检测结果的检测部件的检测部件的检测结果;水平位置计算部件,从所述第1象限的检测结果与所述第4象限的检测结果之和,减去所述第2象限的检测结果与所述第3象限的检测结果之和,从而计算以配置在所述第1象限至第4象限的检测部件的中心位置作为基准的、所述物体接触或者靠近的位置的水平方向的检测位置;垂直位置计算部件,从所述第1象限的检测结果与所述第2象限的检测结果之和,减去所述第3象限的检测结果与所述第4象限的检测结果之和,从而计算以配置在所述第1象限至第4象限的检测部件的中心位置作为基准的、所述物体接触或者靠近的位置的垂直方向的检测位置;以及输出部件,输出通过所述水平位置计算部件以及所述垂直位置计算部件计算出的、所述物体接触或者靠近的位置的水平方向以及垂直方向的位置。2、 如权利要求1所述的接触式传感器,其中,在对应于所述检测部件的配置,对第1象限至第4象限环状地配置了第1检测结果、第2检测结果、第3检测结果以及第4检测结果时,所述取得部件取得其作为所述第1象限至第4象限的检测结果,其中,所述第1检测结果是检测了由所述检测部件检测出的静电电容的变化最大的值的所述检测部件的检测结果;所述第2检测结果以及第3检测结果是与检测了所述第1检测结果的检测部件相邻的检测部件的检测结果;所述第4检测结果是与所述第2检测结果以及第3检测结果中所述检测结果较大的检测部件相邻且并非检测了第1检测结果的检测部件的检测部件的检测结果。3、 如权利要求1所述的接触式传感器,还包括角度计算部件,根据由所述水平位置计算部件以及所述垂直位置计算部 件计算出的所述物体接触或者靠近的位置的水平方向以及垂直方向的位置,计算对于以配置在所述第1象限至第4象限的检测部件的中心位置作为基准 的所述物体接触或者靠近的位置的水平方向以及垂直方向的角度。4、 如权利要求1所述的接触式传感器,还包括距离计算部件,根据由所述水平位置计算部件以及所述垂直位置计算部 件计算出的所述物体接触或者靠近的位置的水平方向以及垂直方向的位置, 计算从配置在所述第1象限至第4象限的检测部件的中心位置到所述物体接 触或者靠近的位置为止的距离。5、 如权利要求3或4所述的接触式传感器,还包括滚动部件,使图像对应于由所述输出部件输出的所述物体接触或者靠近 的位置的水平方向以及垂直方向的位置变化而滚动,所述滚动部件基于所述距离以及所述角度改变滚动速度。6、 如权利要求1所述的接触式传感器,其中,在由所述距离计算部件计算的从配置在所述第1象限至第4象限的检测 部件的中心位置到所述物体接触或者靠近的位置为止的距离不是规定范围的 大小时,视为发生了差错,所述输出部件停止输出所述物体接触或者靠近的 位置的水平位置以及垂直方向的位置。7、 如权利要求1所述的接触式传感器,其中, 所述多个检测部件被直线状配置。8、 如权利要求7所述的接触式传感器,其中,检...

【专利技术属性】
技术研发人员:木下政宏藤田裕之堀内武近冈政弥末广喜嗣
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1