【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于准备检查对象的磁共振成像的方法。本专利技术还涉及一种磁共振成像方法。本专利技术还涉及一种用于磁共振成像系统的准备装置。本专利技术还涉及一种磁共振成像系统。
技术介绍
1、基于尤其是核自旋的磁共振测量方法的成像系统、即所谓的磁共振断层扫描仪或磁共振成像系统已经通过广泛的应用成功地建立并且得到验证。在此应简要提及的是,术语磁共振成像和磁共振测量或者缩写形式“测量”在本申请的全文中是同义词。尤其地,这也包括具有非直接客观性质的抽象量、如扩散测量中的测量参量的磁共振测量。在描述针对特定测量预设的脉冲序列时,术语“顺序”(abfolge,或者说系列)也与术语“序列”同义地使用。
2、在这类图像采集中,用于待检查的磁偶极子的原始定向和均匀化的静态基本磁场b0通常与快速切换的磁场、所谓的梯度场叠加,用于成像信号的位置分辨。为了确定待描绘的检查对象的材料特性,在磁化从原始定向偏转之后确定失相或弛豫时间,从而能够识别出不同的材料特定的弛豫机制或弛豫时间。该偏转通常通过一些hf脉冲(缩写hf代表高频)、也称为激励脉冲实现,
...【技术保护点】
1.一种用于准备检查对象(O)的磁共振成像的方法,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其中,在调整步骤中,修改用于允许的方案参数值(PP)的针对测量方案(P)的规划预设的值范围,使得所确定的最大梯度上升率(Smax)不被超出。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,根据最大梯度上升率(Smax)向用户显示参数值范围,用户能够从该参数值范围中选择用于待规划的测量方案(P)的待调整的方案参数(PP)的参数值。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在多个待调整的方案参数(PP)的情况下,根据为第一参数选择的参数
...【技术特征摘要】
1.一种用于准备检查对象(o)的磁共振成像的方法,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其中,在调整步骤中,修改用于允许的方案参数值(pp)的针对测量方案(p)的规划预设的值范围,使得所确定的最大梯度上升率(smax)不被超出。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,根据最大梯度上升率(smax)向用户显示参数值范围,用户能够从该参数值范围中选择用于待规划的测量方案(p)的待调整的方案参数(pp)的参数值。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在多个待调整的方案参数(pp)的情况下,根据为第一参数选择的参数值调整第二方案参数的值,使得最大梯度上升率(smax)被遵守。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述多个代表性脉冲序列段(r-psa)中的至少一个包括以下的梯度脉冲序列之一:
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,测量方案(p)所依据的脉冲序列(ps)具有在刺激潜力(sp)方面与所选择的代表性脉冲序列段(r-psa)相当的脉冲序列段(m-psa)。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述多个代表性脉冲序列段(r-psa)的生成在用于磁共振成像系统(100)的磁共振成像的计算机程序的开发中就已经进行。
【专利技术属性】
技术研发人员:T·费维尔,M·米勒,A·凯丁格,M·泽勒,G·鲁伊特斯,
申请(专利权)人:西门子医疗股份公司,
类型:发明
国别省市:
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