【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于无透镜光学显微成像技术，具体为一种基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法。
技术介绍
1、无透镜显微成像技术是一种创新的显微成像方法，它不依赖于传统的光学透镜系统，而是使用计算成像技术来实现高分辨率和大视场的成像。这项技术在过去十几年中得到了迅速发展，特别是aydogan ozcan团队在提高无透镜显微成像分辨率方面做出了显著贡献（greenbaum, alon, wei luo, ting-wei su, zoltán göröcs, liang xue, serhano. isikman, ahmet f. coskun, onur mudanyali, and aydogan ozcan. "imagingwithout lenses: achievements and remaining challenges of wide-field on-chipmicroscopy." nature methods 9, no. 9 (2012): 889-895.）。他们开发的方法不仅提高了成像分辨率，还将超分辨过...
【技术保护点】
1.一种基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，利用无透镜片上显微成像系统采集多帧样品的初始光强图，所述无透镜片上显微成像系统包括光源和传感器，样品设置在传感器出，且光源、样品和传感器共轴。
3.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，采集不同照明波长、不同照明角度和光源、样品及传感器不同横向位移下的多帧样品的初始光强图。
4.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及...
【技术特征摘要】
1.一种基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，利用无透镜片上显微成像系统采集多帧样品的初始光强图，所述无透镜片上显微成像系统包括光源和传感器，样品设置在传感器出，且光源、样品和传感器共轴。
3.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，采集不同照明波长、不同照明角度和光源、样品及传感器不同横向位移下的多帧样品的初始光强图。
4.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，通过自聚焦算法确定离焦距离的具体方法为：
5.根据权利要求4所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，自聚焦的评价函数具体为：
6.根据权利要求1所述的基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法，其特征在于，构建被测物体在聚焦面...
【专利技术属性】
技术研发人员：左超，吴雪娟，孙佳嵩，陈样，蔺文辉，陈羽凡，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：
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