芯片验证方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了芯片验证方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片验证技术领域。该方法包括：获取芯片的时钟复位结构图；根据时钟复位结构图确定时钟复位结构图中各组件的组件信息和各组件的父子关系；根据组件信息和父子关系得到虚拟时钟树；基于通用验证方法学，根据虚拟时钟树构建芯片的时钟复位验证平台；通过时钟复位验证平台对芯片的时钟复位结构进行验证。这样，通过对时钟复位结构图的自动化解析，生成芯片验证环境，降低了芯片验证的复杂度，能够在较短时间内完成验证环境迭代和验证进度收敛，并且通过时钟节点父子关系虚拟时钟树降低了验证环境实现的复杂度，并具有较强的可扩展性，可以适配不同项目。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片验证，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、较大规模的芯片结构比较复杂，若在验证环境中使用模块化的连接方式可能会导致引入错误，并且在调试期间不易及时找到发生错误的位置，工作效率较低。并且的时钟复位器(clock and reset generate，crg)的改动可能会贯穿整个芯片设计周期，如果crg发生改动，则验证人员需要同步调整组件连接关系，从而验证效率较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质，用于自动提取时钟复位关键节点信息，并利用节点的思想验证环境的方法。

2、本专利技术提供如下技术方案：

3、第一方面，本方面提出一种芯片验证方法，所述方法包括：

4、获取芯片的时钟复位结构图；

5、根据所述时钟复位结构图确定所述时钟复位结构图中各组件的组件信息和各所述组件的父子关系；

6、根据所述组件信息和所述父子关系得到虚拟时钟树；本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，所述通过所述时钟复位验证平台对所述芯片的时钟复位结构进行验证，包括：

3.根据权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述根据所述比对结果判断所述时钟复位结构的行为是否正确，包括：

4.根据权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述通过所述时钟复位验证平台向所述时钟复位结构下发测试激励之后，包括：

5.根据权利要求4所述的芯片验证方法，其特征在于，所述实际运行信息包括复位信号和寄存器值，所述根据所述实际运行信息调整所述虚拟时钟树的节点信...

【技术特征摘要】

1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，所述通过所述时钟复位验证平台对所述芯片的时钟复位结构进行验证，包括：

3.根据权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述根据所述比对结果判断所述时钟复位结构的行为是否正确，包括：

4.根据权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述通过所述时钟复位验证平台向所述时钟复位结构下发测试激励之后，包括：

5.根据权利要求4所述的芯片验证方法，其特征在于，所述实际运行信息包括复位信号和寄存器值，所述根据所述实际运行信息调整所述虚拟时钟树的节点信息，包括：

6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙成思，何瀚，王灿，许兴晓，林玉佳凡，李季，
申请(专利权)人：杭州芯势力半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：