【技术实现步骤摘要】
本说明书总体上涉及故障排除，并且更具体地涉及减轻半导体中的非预期状况的方法、装置和制品。
技术介绍
1、半导体开发人员在半导体制造完成后对半导体进行测试，以验证半导体是否已按预料和/或预期制造和/或工作。这种努力被称为硅后(post-silicon)验证。硅后验证通过允许半导体开发人员检测并纠正半导体中的一个或多个非预期和/或意外状况来辅助半导体开发。例如，半导体中的非预期状况包括半导体的非预期系统功能、半导体的非预期电气方面和/或半导体中的非预期系统制造缺陷。
技术实现思路
1、对于减轻半导体中的非预期状况的方法、装置和制品，一种示例装置包括寄存器、用于存储与寄存器相关联的重新配置数据的存储器以及寄存器控制电路。该示例寄存器控制电路用于确定存储器是否包含与状态机电路所经历的触发事件相对应的重新配置数据。此外，该示例寄存器控制电路将基于确定存储器包含与触发事件相对应的重新配置数据，用重新配置数据中包含的值重新配置在重新配置数据中识别的寄存器。
【技术保护点】
1.一种装置，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述寄存器控制电路用于基于来自所述状态机电路的中断是否包含触发事件代码而确定所述状态机电路是否经历所述触发事件。
3.根据权利要求1所述的装置，其中所述触发事件是第一触发事件，所述存储器包含触发事件数据，并且所述寄存器控制电路用于基于所述状态机电路经历所述第一触发事件而进行以下操作：
4.根据权利要求1所述的装置，其中所述重新配置数据用于识别所述寄存器的地址和对所述寄存器进行编程所用的所述值。
5.根据权利要求4所述的装置，其中所述存储器包含触发事件数据，所述触发事...
【技术特征摘要】
1.一种装置，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述寄存器控制电路用于基于来自所述状态机电路的中断是否包含触发事件代码而确定所述状态机电路是否经历所述触发事件。
3.根据权利要求1所述的装置，其中所述触发事件是第一触发事件，所述存储器包含触发事件数据，并且所述寄存器控制电路用于基于所述状态机电路经历所述第一触发事件而进行以下操作：
4.根据权利要求1所述的装置，其中所述重新配置数据用于识别所述寄存器的地址和对所述寄存器进行编程所用的所述值。
5.根据权利要求4所述的装置，其中所述存储器包含触发事件数据，所述触发事件数据用于识别在其之后对所述寄存器进行编程的所述触发事件。
6.根据权利要求1所述的装置，其进一步包括状态机电路，所述状态机电路用于在经历所述触发事件之后生成中断。
7.根据权利要求1所述的装置，其进一步包括：
8.一种装置，包括：
9.根据权利要求8所述的装置，其中所述控制电路用于基于来自所述状态机电路的中断是否包含触发事件代码来确定所述状态机电路是否经历所述触发事件。
10.根据权利要求8所述的装置，其中所述触发事件是第一触发事件，所述存储器包含触发事件数据，并且所述控制电路基于所述状态机电路经历所述第一触发事件而进行以下操作：
11.根据权利要求8所述的装置，其中所述存储器为第一存储器，且所述可重新配置电路包含第一寄存器、第二存储器、包含第二寄存器的第一可变部件或包含开关电路的第二可变部件中的至少一个。
12.根据权利要求11所述的装置，其中所述重新配置数据用于识别所述寄存器的地址和对所述寄存器进行编程所用的所述值。
13.根据权利要求8所述的装置，其进一步包括所述状态机电路，所述状态机电路用于在经历所述触发事件之后生成中断。
14.根据权利要求8所述的装置，其进一步包括：
15.一种方法，包括：
16.根据权利要求15所述的方法，其进一步包括基于来自所述状态机电路的中断是否包含触发事件代码来确定所述状态机电路是否经历所述触发事件。
17.根据权利要求15所述的方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：L·K·博特查，A·A·帕特基，
申请(专利权)人：德克萨斯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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