系统芯片产品自动化整合测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种系统芯片产品自动化整合测试系统。一种自动化整合测试系统包括主服务器及多个工作站。主服务器用以执行：审查提交代码，以获得审查结果；在审查结果为通过时，编译提交代码，以获得编译结果；在编译结果为成功时，获得已编译代码；及致动至少一工作站执行代测项目，以获得总测试结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试系统，尤其是一种系统芯片(system on chip,soc)产品自动化整合测试系统。

技术介绍

1、专利技术人所知的纯软件类产品开发过程具有自动整合测试功能，但是不涉及硬件的控制与测试。系统芯片(system on chip,soc)产品的开发和测试过程一般是分离的，即软件开发完成之后对开发板进行代码编译刻录，然后进行手动测试，这个过程耗时较长，版本迭代缓慢，质量管理(quality control,qc)系由人工测试，其效率比较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术的一些实施例整合软件开发和硬件测试过程，提出了一种对soc产品的自动控制以及检测的系统。每一次代码提交都会触发对应的整合测试，全部由计算机控制soc硬件产品自动化进行，可以在代码提交阶段及时发现开发版本中出现的问题，预防不良代码被合并。同时，本专利技术的一些实施例实现同一套硬件环境的共享，因此开发人员无需本地重新建立测试环境，而可以直接利用系统代替人力对开发中产品进行多次压力测试，节省成本和时间(一天24小时)，代本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种自动化整合测试系统，包括：

2.如权利要求1所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述审查结果为不通过时，将所述审查结果传送至一代码来源端。

3.如权利要求2所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述编译结果为不通过时，将所述编译结果传送至所述代码来源端。

4.如权利要求3所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述总测试结果为不通过时，将所述总测试结果传送至所述代码来源端。

5.如权利要求1所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述总测试结果为通过时，将所述提交...

【技术特征摘要】

1.一种自动化整合测试系统，包括：

2.如权利要求1所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述审查结果为不通过时，将所述审查结果传送至一代码来源端。

3.如权利要求2所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述编译结果为不通过时，将所述编译结果传送至所述代码来源端。

4.如权利要求3所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述总测试结果为不通过时，将所述总测试结果传送至所述代码来源端。

5.如权利要求1所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以执行：在所述总测试结果为通过时，将所述提交代码标记为可合并。

6.如权利要求1所述的自动化整合测试系统，其中所述主服务器还用以...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈艳萍，郭燕，郭春霞，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：