GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台制造技术

技术编号:42625387 阅读:35 留言:0更新日期:2024-09-06 01:28
本发明专利技术提供了一种GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台,该GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台包括:支柱绝缘子套设于高压导杆上并位于试验箱内;金属微粒释放装置可移动地设置在支柱绝缘子的外侧并位于试验箱内,金属微粒释放装置的移动轨迹为围设在支柱绝缘子的外周的第一环形轨迹;电荷测量装置可移动地设置在支柱绝缘子的外侧并位于试验箱内,电荷测量装置的移动轨迹为围设在支柱绝缘子的外周的第二环形轨迹,第一环形轨迹与第二环形轨迹同心设置或相重合。通过本申请提供的技术方案,能够解决相关技术中的GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台布置金属微粒的方式影响金属微粒模拟试验最终的试验结果以及结论的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及gil,具体而言,涉及一种gil内部金属微粒释放与电荷测量平台。


技术介绍

1、gil(气体绝缘金属封闭输电线路)是一种应用sf6等绝缘气体作为绝缘介质、导体与外壳同轴布置的管道输电装置,由于gil的输电容量大、输电损耗小以及输电稳定性不受地理环境及外界天气影响特性,使得gil在穿山过河、电厂进出线以及住宅密集区域电网升级等特殊输电通道有较多应用,可有效支撑电力系统清洁化、绿色化升级。

2、其中,gil内部的异物会显著损害其绝缘性能,因此在生产、验收过程中,生产人员会对gil内部严格进行清洁工作。但在gil的生产、运输以及运行等环节过程中,因振动和热应力变化等因素,gil内部的螺钉与螺纹孔之间、金属部件之间等部位会产生金属微粒,这些金属微粒在多种力的作用下,会积累在gil内部的支柱绝缘子的环氧材料表面,这些金属微粒改变支柱绝缘子的表面电场分布,降低支柱绝缘子表面的闪络电压,严重危害gil安全稳定运行。采用金属微粒模拟试验可在一定程度上还原金属微粒对gil的支柱绝缘子表面绝缘性能的影响,通过更换不同类型的金属微粒进行实验,以研究不同本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台包括:

2.根据权利要求1所述的GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述金属微粒释放装置(40)包括:

3.根据权利要求2所述的GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述第一调节结构(43)包括:

4.根据权利要求2所述的GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的GIL内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述电荷测量装置(50)包括:

6.根据权利要求5所述的GIL...

【技术特征摘要】

1.一种gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述gil内部金属微粒释放与电荷测量平台包括:

2.根据权利要求1所述的gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述金属微粒释放装置(40)包括:

3.根据权利要求2所述的gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述第一调节结构(43)包括:

4.根据权利要求2所述的gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述电荷测量装置(50)包括:

6.根据权利要求5所述的gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征在于,所述第二调节结构(53)包括:

7.根据权利要求1至6中任一项所述的gil内部金属微粒释放与电荷测量平台,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢志杨王彦成陈志平李国伟张晓明徐朋江黄健洪陈邦发刘益军王俊波刘宝强梁健明张俊黎汉王智娇沈勇詹清华蒋维张虎陈道品
申请(专利权)人:广东电网有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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