转档系统及其转档方法技术方案

本发明专利技术有关一种转档系统及其转档方法。该转档方法，包含：自动取得包含一待转档测试模式的转档资料；进行转档，将待转档测试模式格式，转换成一目标测试模式的格式；重新命名转档后的目标测试模式；编译该目标测试模式；储存重新命名后的目标测试模式。该转档系统，包含：一转档伺服器，自动取得一转档资料包含一待转档测试模式、将待转档测试模式转换成一目标测试模示、重新命名目标测试模式、编译目标测试模式、储存重新命名后的目标测试模式；以及至少一测试机，用于测试晶圆。本发明专利技术可使转档步骤简化，统一并可全自动化运作，转档后测试模组可重复使用，减少人为疏失，减少人员加班提升工作效率，降低量产准备时间，并且系统的扩充性高，可以减低相关成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及一种可简化、统 一转档步骤，可全自动化运作，转档后的目标测试模组可重复使用，减少 人为疏失，提升工作效率，且系统扩充性高，可减低相关成本的半导体测 试领域的。
技术介绍
在半导体测试领域，通常使用测试系统如4十测卡(probe card)系统，其 精密的接触机构与待测晶圓作接触，形成电性通路并执行测试。其中，半导 体测试系统会将测试才莫式(test pattern)传递到一测试介面，再转送至针 测卡上并先后与晶圆上的待测晶片接触，之后测试模式以相同路径传回。此 测试介面也可称为测试机(tester),关于测试一几在半导体测试系统扮演的 角色，可参考中国台湾专利1261331号，题为以多种程式对多种元件加以 多点测试的方法的说明。一种典型的测试才几可能包含一测试模式产生器(pattern generator)以 产生上述的测试模式。典型的测试流程是由测试模式产生器根据待测晶片 的种类，或者根据待测晶片所储存的资料如软件码(function code),产生 一预期测试模式(expected test pattern),预期测试信号(信号即讯号)可 能被储本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种转档方法，其特征在于其包括以下步骤：　自动取得转档资料，转档资料包含一待转档测试模式，其中自动取得转档资料包含以一转档伺服器自一客户伺服器下载该转档资料，或该转档伺服器开放权限供客户上传该转档资料；　进行转档，将待转档测试模 式，转换成一目标测试模式；　重新命名，命名该目标测试模式；　编译，对该进行转档步骤进行除错；以及　储存，将重新命名后的目标测试模式储存。

【技术特征摘要】
1、一种转档方法，其特征在于其包括以下步骤自动取得转档资料，转档资料包含一待转档测试模式，其中自动取得转档资料包含以一转档伺服器自一客户伺服器下载该转档资料，或该转档伺服器开放权限供客户上传该转档资料；进行转档，将待转档测试模式，转换成一目标测试模式；重新命名，命名该目标测试模式；编译，对该进行转档步骤进行除错；以及储存，将重新命名后的目标测试模式储存。2、 根据权利要求1所述的转档方法，其特征在于其中所述的自动取得器。 ；、3、 根据权利要求1所述的转档方法，其特征在于其中所述的进行转档 步骤包含一设定档或参数档，该设定档或参数档根据该待转档测试模式与 该目标测试模式的对照关系，进行转档。4、 根据权利要求3所述的转档方法，其特征在于其中所述的设定档或 参数档是将复数种该待转档测试模式，转换成该目标测试模式。5、 根据权利要求3所述的转档方法，其特征在于其中所述的设定档或 参数档包含客户上传的转档程式。6、 根据权利要求1所述的转档方法，其特征在于其中所述的重新命名 ...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑世杰，刘龙昌，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]