一种面板缺陷样本图像增强方法、系统、设备及存储介质技术方案

技术编号:42617152 阅读:32 留言:0更新日期:2024-09-03 18:23
本发明专利技术提供一种面板缺陷样本图像增强方法、系统、设备及存储介质,涉及样本数据增强技术领域,所述方法流程为:获取面板背景图像以及面板缺陷图像,对面板背景图像以及面板缺陷图像进行像素处理,以得到面板背景像素图像以及面板缺陷像素图像;对面板缺陷像素图像进轮廓提取处理,以得到面板缺陷轮廓图像;基于空白背景图像对面板缺陷轮廓图像进行图像变换处理,以得到面板缺陷变换图像;对面板背景像素图像和面板缺陷变换图像进行图像融合处理,以得到面板缺陷样本图像。本发明专利技术通过对面板背景和缺陷进行图像融合,能够扩充面板缺陷样本图像的数量,解决了由于面板缺陷样本图像不均衡,导致的模型容易对数据产生过拟合,模型泛化能力低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及样本数据增强,具体而言,涉及一种面板缺陷样本图像增强方法、系统、设备及存储介质


技术介绍

1、随着工业面板生产的快速发展,自动化生产线已经成为很多工厂的主要生产方式。然而,由于设备老化、操作失误等原因,工业面板在生产过程中往往会出现各种缺陷,这些缺陷如果不能及时检测和处理,将会导致面板生产质量下降,甚至影响整个生产线的正常运行。

2、目前,面板缺陷目标检测常常采用自动缺陷分类系统(adc系统)进行缺陷检测。然而,adc系统前期需要收集面板缺陷样本进行深度学习模型的训练。由于,实际生产中面板缺陷样本的数量极度不均衡,对于面板样本数量较少的数据,容易使得深度学习模型对数据产生过拟合,从而大大降低了模型的泛化能力。


技术实现思路

1、为了解决现有面板缺陷样本图像不均衡,容易导致模型对数据产生过拟合,模型泛化能力低的问题,本专利技术实施例提供了一种面板缺陷样本图像增强方法、系统、设备及存储介质。

2、在第一方面,本专利技术实施例中提供一种面板缺陷样本图像增强方法,所述方法包括以本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,对面板背景图像以及面板缺陷图像进行像素处理,以得到面板背景像素图像以及面板缺陷像素图像的流程如下:

3.根据权利要求1所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,所述图像变换处理包括图像位置变换处理、图像大小变换处理以及图像角度变换处理。

4.根据权利要求3所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,构建空白背景图像,并且基于空白背景图像对面板缺陷轮廓图像进行图像位置变换处理的流程如下:p>

5.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,对面板背景图像以及面板缺陷图像进行像素处理,以得到面板背景像素图像以及面板缺陷像素图像的流程如下:

3.根据权利要求1所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,所述图像变换处理包括图像位置变换处理、图像大小变换处理以及图像角度变换处理。

4.根据权利要求3所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,构建空白背景图像,并且基于空白背景图像对面板缺陷轮廓图像进行图像位置变换处理的流程如下:

5.根据权利要求3所述的一种面板缺陷样本图像增强方法,其特征在于,构建空白背景图像,并且基于空白背景图像对面板缺陷轮廓图像进行图像大小变换处理的流程如下:

6.根据权利要求3所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名
申请(专利权)人:成都数之联科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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