一种激光粒度测试仪用消气泡装置制造方法及图纸

技术编号:42611114 阅读:18 留言:0更新日期:2024-09-03 18:18
本申请公开了一种激光粒度测试仪用消气泡装置,通过稳定液体在变截面区域的流场,从而减小此区域由旋窝产生的气泡,提高激光粒度仪测试的准确性,降低对测试结果产生的影响。本申请包括:测试皿本体、上接头、下接头、上接头导流板组件和下接头导流板组件;所述上接头设置在测试皿本体上方,所述下接头设置在测试皿本体下方,所述上接头导流板组件安装在所述上接头,所述下接头导流板组件安装在所述下接头,所述上接头导流板组件、所述下接头导流板组件以及所述测试皿本体之间组合形成变截面区域,所述下接头导流板组件配合所述上接头导流板组件用于减小所述变截面区域由旋窝产生的气泡。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及激光粒度测试,尤其涉及一种激光粒度测试仪用消气泡装置


技术介绍

1、激光粒度测试仪目前广泛用于粉末冶金、薄膜、膜片料、催化剂、绝缘材料、润滑油、超导体、无线电技术等行业,涉及化学、制药、食品、建材等工业领域并发挥着越来越大的作用,在激光粒度测试仪中,被测试的颗粒样品分散悬浮在液体中,形成悬浮液,此悬浮液流经测试皿时,激光照射到样品颗粒而产生散射光,从而通过散射光的强度和分布检测出颗粒的粒度分布。

2、由于在液体流动时,通过下接头导入测试皿中,再从测试皿经上接头导出,在测试皿交界区域容易生成旋窝而产生气泡,此气泡会被误认为颗粒而影响最终的测试结果,测试的准确性较低。基于此,本申请提供了一种激光粒度测试仪用消气泡装置用于解决上述问题。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本申请提供了一种激光粒度测试仪用消气泡装置。

2、下面对本申请中提供的技术方案进行描述:

3、本申请提供了一种激光粒度测试用消去泡装置,包括:测试皿本体、上接头、下接头、上接头导流板组件和下接头导流板组件;

4、所述上接头设置在所述测试皿本体上方,所述下接头设置在所述测试皿本体下方,所述上接头导流板组件安装在所述上接头,所述下接头导流板组件安装在所述下接头,所述上接头导流板组件、所述下接头导流板组件以及所述测试皿本体之间组合形成变截面区域,所述下接头导流板组件配合所述上接头导流板组件用于减小所述变截面区域由旋窝产生的气泡。

5、可选的,所述上接头导流板组件包括第一网片连接板、若干个上接头导流片和第一转动轴;所述第一网片连接板安装在所述上接头的下端,所述若干个上接头导流片分别通过所述第一转动轴活动安装在所述第一网片连接板上。

6、可选的,所述若干个上接头导流板之间为等间距设置。

7、可选的,所述上接头导流片的两侧均设置有第一限位板,所述第一限位板用于限制所述上接头导流片的转动角度。

8、可选的,所述下接头导流板组件包括第二网片连接板、若干个下接头导流片和第二转动轴;所述第二网片连接板安装在所述下接头的上端,所述若干个下接头导流片分别通过所述第二转动轴活动安装在所述第二网片连接板上。

9、可选的,所述若干个下接头导流板之间为等间距设置。

10、可选的,所述下接头导流片的两侧均设置有第二限位板,所述第二限位板用于限制所述下接头导流片的转动角度。

11、可选的,所述若干个上接头导流片均设置在所述第一网片连接板的上方。

12、可选的,所述若干个下接头导流片均设置在所述第二网片连接板的下方。

13、可选的,所述上接头的下端开口面积大于所述上接头的上端开口面积,所述上接头的下端与所述测试皿本体的上端连接;

14、所述下接头的上端开口面积大于所述下接头的下端开口面积,所述下接头的上端与所述测试皿本体的下端连接。

15、从以上技术方案可以看出,本申请具有以下优点:

16、本申请激光粒度测试用消去泡装置设置有测试皿本体、上接头、下接头、上接头导流板组件和下接头导流板组件;其中,上接头设置在测试皿本体上方,下接头设置在测试皿本体下方,上接头导流板组件安装在上接头中,下接头导流板组件安装在下接头中,上接头导流板组件、下接头导流板组件以及测试皿本体之间组合形成变截面区域,进而可知,下接头导流板组件配合上接头导流板组件用于减小变截面区域由旋窝产生的气泡,通过稳定液体在变截面区域的流场,从而减小此区域由旋窝产生的气泡,提高激光粒度仪的测试准确性,降低对测试结果产生的影响。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,包括:测试皿本体、上接头、下接头、上接头导流板组件和下接头导流板组件;

2.根据权利要求1所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述上接头导流板组件包括第一网片连接板、若干个上接头导流片和第一转动轴;所述第一网片连接板安装在所述上接头的下端,所述若干个上接头导流片分别通过所述第一转动轴活动安装在所述第一网片连接板上。

3.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述若干个上接头导流板之间为等间距设置。

4.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述上接头导流片的两侧均设置有第一限位板,所述第一限位板用于限制所述上接头导流片的转动角度。

5.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述下接头导流板组件包括第二网片连接板、若干个下接头导流片和第二转动轴;所述第二网片连接板安装在所述下接头的上端,所述若干个下接头导流片分别通过所述第二转动轴活动安装在所述第二网片连接板上。

6.根据权利要求5所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述若干个下接头导流板之间为等间距设置。

7.根据权利要求5所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述下接头导流片的两侧均设置有第二限位板,所述第二限位板用于限制所述下接头导流片的转动角度。

8.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述若干个上接头导流片均设置在所述第一网片连接板的上方。

9.根据权利要求5所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述若干个下接头导流片均设置在所述第二网片连接板的下方。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述上接头的下端开口面积大于所述上接头的上端开口面积,所述上接头的下端与所述测试皿本体的上端连接;

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【技术特征摘要】

1.一种激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,包括:测试皿本体、上接头、下接头、上接头导流板组件和下接头导流板组件;

2.根据权利要求1所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述上接头导流板组件包括第一网片连接板、若干个上接头导流片和第一转动轴;所述第一网片连接板安装在所述上接头的下端,所述若干个上接头导流片分别通过所述第一转动轴活动安装在所述第一网片连接板上。

3.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述若干个上接头导流板之间为等间距设置。

4.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述上接头导流片的两侧均设置有第一限位板,所述第一限位板用于限制所述上接头导流片的转动角度。

5.根据权利要求2所述的激光粒度测试仪用消气泡装置,其特征在于,所述下接头导流板组件包括第二网片连接板、若干个下接头导流片和第二转动轴;所述第二网片连接板安...

【专利技术属性】
技术研发人员:周已欣
申请(专利权)人:成都精新粉体测试设备有限公司
类型:新型
国别省市:

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