一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法和系统技术方案

一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，包括：获取待标准化地层信息区域的典型剖面数据，对所述典型剖面数据进行预处理；获取待标准化地层信息区域的钻孔数据，将每个钻孔在所述典型剖面上进行垂直投影，计算得到钻孔到典型剖面的距离；判断所述钻孔到典型剖面的距离是否满足第一预设阈值，当所述距离满足第一预设阈值时，将所述钻孔数据和典型剖面数据划分为一组，并同时获取所述钻孔在典型剖面投影点位置的地层信息；将钻孔数据中原始地层信息与钻孔在典型剖面投影点位置的地层信息进行逐层比较，根据逐层比较结果对钻孔数据中原始地层信息进行标准化修正。本发明专利技术可以大大提高地质勘探工作的效率和准确性，可以节省大量时间和精力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是地质地理信息处理领域，特别涉及一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法和系统。

技术介绍

1、在地质勘探和地质研究过程中，地质地层信息的标准化是一个重要的任务。这些数据通常来自于钻孔，包括钻孔深度、岩性描述、地层解释等。标准化地层信息可以辅助在三维场景中建模以便地质学家和工程师更好地理解地质结构和地质特征，从而支持石油勘探、地质灾害评估、城市规划等工作。

2、目前，地质地层信息的标准化主要依赖于人工处理，存在着耗时、耗力、容易出错等问题。尤其是在大规模的地层信息处理中，人工标准化往往成为瓶颈，限制了数据分析和应用的效率。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法和系统。

2、为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：

3、第一方面，本专利技术实施例提供了一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，包括：

4、s100.获取待标准化地层信本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，S100中，获取待标准化地层信息区域的典型剖面数据，具体方法包括：通过地质调查、钻探方式获取所述典型剖面数据，其中所述典型剖面数据代表待标准化地层信息区域的地质特征和地层变化。

3.如权利要求1所述的.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，S100中，对所述典型剖面数据进行预处理，具体方法包括：通过地质调查和采样分析方法确定典型剖面所对应的地层信息，并根据所述典型剖面所对应的地层信息绘制标注不同地层岩性、年...

【技术特征摘要】

1.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，s100中，获取待标准化地层信息区域的典型剖面数据，具体方法包括：通过地质调查、钻探方式获取所述典型剖面数据，其中所述典型剖面数据代表待标准化地层信息区域的地质特征和地层变化。

3.如权利要求1所述的.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，s100中，对所述典型剖面数据进行预处理，具体方法包括：通过地质调查和采样分析方法确定典型剖面所对应的地层信息，并根据所述典型剖面所对应的地层信息绘制标注不同地层岩性、年代和构造特征地质剖面图。

4.如权利要求1所述的.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，s100中，对所述典型剖面数据进行预处理，具体方法还包括：将所述典型剖面数据和待标准化的地层信息进行数字化处理，清洗典型剖面数据和待标准化的地层信息中的噪声和异常值。

5.如权利要求1所述的.一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在于，s200中，计算得到钻孔到典型剖面的距离的具体方法包括：将钻孔在所述典型剖面上进行垂直投影，得到所述钻孔到所述典型剖面的多个投影距离，获取所述多个投影距离中的最小值，将所述最小值作为钻孔到典型剖面的距离。

6.如权利要求1所述的一种基于典型剖面数据的地层信息标准化方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张发勇，叶玉强，周滕龙，曾航旗，孙强林，李才仙，
申请(专利权)人：武汉智博创享科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：