一种带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统及方法技术方案

技术编号:42569907 阅读:21 留言:0更新日期:2024-08-29 00:36
本发明专利技术涉及成像系统及方法,以解决现有技术采用四块二极磁铁、线束狭缝组件和真空管道组成,其空间占用面积到,导致成像装置在具体应用中受空间限制较大的技术问题。本发明专利技术提供的一种带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统及方法,双消色散能量选择系统包括呈奇对称结构分布的第一偏转磁铁、第二偏转磁铁和第三偏转磁铁;带电粒子束沿带电粒子束路径依次穿过第一偏转磁铁、第二偏转磁铁和第三偏转磁铁后由成像板吸收并进行空间分布成像;电源控制系统分别用于调控通过第一偏转磁铁、第二偏转磁铁和第三偏转磁铁的线圈的电流,调节第一偏转磁铁、第二偏转磁铁和第三偏转磁铁的磁场强度,实现特定中心能量的带电粒子束的选择。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及成像系统及方法,具体涉及一种带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统及方法


技术介绍

1、高能密度物理诊断技术对于惯性约束核聚变,材料物理,天体物理,加速器物理及国防等都具有极其重大的意义。现有常用的高能密度物质诊断技术按照探测束的不同类型可分为x射线成像和带电粒子束成像两大类。x射线无法利用透镜传输和聚焦,且对高z和低z混合材料的密度分辨不敏感。此外,x射线闪光成像无法消除散射带来的模糊,光源几何尺寸无法控制,无法穿透高密度物质等。高能带电粒子成像具有穿透能力强、高时空分辨及大动态范围的密度分辨的特点,有望应用于对i cf靶丸压缩过程等高能密度物理的诊断。

2、带电粒子照相可以有两种形式,第一种是直接透视照相,第二种是采用电磁透镜聚焦的透视照相。采用聚焦透镜可以提高图像的分辨率,但目前基于四极磁铁组的透镜成像存在色差模糊及成像系统复杂的问题。

3、公开号为cn116525391a的中国专利文献,公开了一种带电粒子消色差能量选择成像装置,带电粒子束源设置在束流传输单元入射端前侧,用于产生具有能量分布的带电粒子束;所述束本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

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5.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

6.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

7.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

5.根据权利要求1所述的带电粒子双消色差三磁铁能量选择成像系统,其特征在于:

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【专利技术属性】
技术研发人员:达天星张长青黑东炜马继明盛亮李阳段宝军
申请(专利权)人:西北核技术研究所
类型:发明
国别省市:

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