一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉伸夹具及使用方法技术

一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉伸夹具，包括：夹具本体一及二、夹具本体一及二上分别设置的：沉降螺孔及螺栓、插销及插销孔、拉力杆在夹具本体一及二的前端面设置的待测样品固定槽一及二，观测缝，其在夹具本体一及二的后端面设置有备测样品固定槽一及二，并在备测样品固定槽一及二内设有螺孔；将夹具本体一及二的前端面设置成向上倾斜状，在待测样品固定槽上设置槽盖一及二，槽盖一及二固定于待测样品固定槽上。使用方法：备测样品及待测样品的制备；将制备的备测样品通过螺栓固定于固定槽一及二中；将待测样品放置于待测样品固定槽一及二内，后将槽盖一及盖二固定；进行拉伸、检测。本发明专利技术使待测样品的EBSD标定率达90％以上，待测样品拉伸断裂后位置位于直线中心段左右偏差率不超过0.5mm。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及属于材料微结构与性能原位表征领域的实验装置，具体涉及一种扫描电镜原位拉伸夹具及使用方法，进一步的为一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉伸夹具及使用方法。

技术介绍

1、材料力学性能测试方法包括拉伸、压缩、剪切、弯曲等，其中应用最广泛的是单轴拉伸测试。传统的单轴拉伸实验属于非原位测试，一般是将试样先在拉伸试验机上拉伸到一定的力值，再放置于扫描电镜sem(scanning electron microscope)中测试，该法不能对测试过程中的材料微观变形过程进行原位观察，尤其缺乏特定受力阶段微观组织结构和晶体织构观测的实时性，无法将材料力学性能参数与微观结构信息建立直接联系。

2、扫描电镜是一种使用聚焦电子束扫描样品，通过激发样品表面的各种电子信号来获得相关信息的一种显微成像仪器。电子背散射衍射仪(electron back scattereddiffraction，简称ebsd)是扫描电镜上的一个探头附件，通过采集背散射电子来获得如晶体取向织构、晶界类型、相组成等完整的分析数据。ebsd数据一般来自样品表面下10-50nm厚的区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉伸夹具，包括：夹具本体一、夹具本体二、夹具本体一及夹具本体二上分别设置的：沉降螺孔及螺栓、插销及插销孔、在夹具本体一及夹具本体二对应连接的拉力杆，在夹具本体一及夹具本体二的前端面设置的待测样品固定槽一及待测样品固定槽二，夹具本体一及夹具本体二形成的观测缝，其特征在于：在夹具本体一及夹具本体二的后端面设置有备测样品固定槽一及备测样品固定槽二，并在备测样品固定槽一及备测样品固定槽二内设有螺孔；将夹具本体一及夹具本体二的前端面设置成68～72°的向上倾斜状，在待测样品固定槽上设置结构形状相同的槽盖一及槽盖二，槽盖一及槽盖二通过沉降螺栓固定于待测样品固...

【技术特征摘要】

1.一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉伸夹具，包括：夹具本体一、夹具本体二、夹具本体一及夹具本体二上分别设置的：沉降螺孔及螺栓、插销及插销孔、在夹具本体一及夹具本体二对应连接的拉力杆，在夹具本体一及夹具本体二的前端面设置的待测样品固定槽一及待测样品固定槽二，夹具本体一及夹具本体二形成的观测缝，其特征在于：在夹具本体一及夹具本体二的后端面设置有备测样品固定槽一及备测样品固定槽二，并在备测样品固定槽一及备测样品固定槽二内设有螺孔；将夹具本体一及夹具本体二的前端面设置成68～72°的向上倾斜状，在待测样品固定槽上设置结构形状相同的槽盖一及槽盖二，槽盖一及槽盖二通过沉降螺栓固定于待测样品固定槽上。

2.如权利要求1所述的一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉伸夹具，其特征在于：在待测样品固定槽内设置有与待测样品固定槽形状相贴合及匹配的调节垫片。

3.如权利要求1所述的一种能提高实验结果精确度的扫描电镜原位拉...

【专利技术属性】
技术研发人员：王贞，葛锐，肖欢，
申请(专利权)人：武汉科技大学，
类型：发明
国别省市：