【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机,尤其涉及一种电源管理芯片测试方法、装置、测试设备及存储介质。
技术介绍
1、电源管理芯片(power management ic,pmic)是用于电压转换、稳压、电池管理的集成电路。它们可以处理电源系统时序,为双倍速率的同步动态随机存取存储器(doubledata rate sdram,ddr)ddr 5内存模组中不同组件提供所需的电源。ddr5是内存芯片,与ddr4内存相比,ddr5标准性能更强,功耗更低,其将电源管理芯片从主板集成到内存板上面,使得主板设计更简洁,但是对电源管理芯片的稳定性和可靠性要求非常高。电源管理芯片不稳定很容易造成少检内存以及运行一段时间后电容开裂等问题,影响整机业务运行。因此,对电源管理芯片测试非常重要。而当前整机测试过程中,测试电源管理芯片的稳定性是通过重启机器后检查可识别内存数量实现的。这种方法的测出故障概率较低,延长了整机测试时间,性价比不高。并且,内存负载发生变化时,电源管理芯片需要实时调整其输出功率以满足内存模块的需求,负载增加,电源管理芯片需要提供更多的电流以确保内存模块的稳
...【技术保护点】
1.一种电源管理芯片测试方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述高负载标准根据设备内存数量,内存功耗最大值以及压测工具系数确定。
3.根据权利要求2所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述高负载标准W=内存数量*内存最大功耗*C,每款内存的内存最大功耗不同,C为压测工具系数。
4.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述增加内存负载,包括:
5.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,在执行切换高负载内存健康状态与低负载内存健康状态检测动
...【技术特征摘要】
1.一种电源管理芯片测试方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述高负载标准根据设备内存数量,内存功耗最大值以及压测工具系数确定。
3.根据权利要求2所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述高负载标准w=内存数量*内存最大功耗*c,每款内存的内存最大功耗不同,c为压测工具系数。
4.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述增加内存负载,包括:
5.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,在执行切换高负载内存健康状态与低负载内存健康状态检测动作预设次数后,还包括:
6.根据权利要求5所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述第三预设时长为1分钟,所述第二预设时长为2分钟,所述第一预设时长为5分钟。
7.根据权利要求5或6所述的电源管理芯片测试方法,其特征在于,所述第二预设时长和所述第三预设时长通过基板管理控制器修改电源供应器的串行通信协议链路寄存器进行切换。
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【专利技术属性】
技术研发人员:马光彬,
申请(专利权)人:苏州元脑智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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