【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示，尤其涉及一种用于图像校正的检测结构及系统。
技术介绍
1、在显示技术中，mems(微电机系统)和fsd(光纤扫描显示)所实现的显示技术路线都需要闭环驱动以确保图像稳定，因此需要精确检测扫描轨迹。
2、需要说明的是，现有技术中采用光学方案检测轨迹，由于镜头的成像距离难免导致检测装置整体结构偏大，破坏眼镜形态，并且需要采用微透镜，定制微型尺寸传感器，其工艺难度高，成本高。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种用于图像校正的检测结构及系统，其能够解决上述
技术介绍
中提出的技术问题。
2、为了实现上述申请目的，本申请提供以下解决方案：
3、本申请提供一种用于图像校正的检测结构，所述检测结构包括扫描器、镜头以及传感器，所述扫描器扫描出光后先后经过所述镜头和所述传感器；
4、所述传感器包括滤波片和光电传感器件，所述滤波片用于滤除不与目标方向重合的光线以及控制感光尺寸；所述滤波片和所述光电传感器件层叠设置，所述滤波片位于所述镜头和所述光电
【技术保护点】
1.一种用于图像校正的检测结构，其特征在于，所述检测结构包括扫描器、镜头以及传感器，所述扫描器扫描出光后先后经过所述镜头和所述传感器；
2.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，还包括波导镜片，所述镜头和所述传感器分别位于所述波导镜片的两侧；所述传感器与所述波导镜片的波导耦入位置相对应；
3.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，所述滤波片包括设置有大孔径比的不透光片。
4.如权利要求3所述的检测结构，其特征在于，所述不透光片上的所述孔为通孔结构或者导光材料填充。
5.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，所述滤波...
【技术特征摘要】
1.一种用于图像校正的检测结构，其特征在于，所述检测结构包括扫描器、镜头以及传感器，所述扫描器扫描出光后先后经过所述镜头和所述传感器；
2.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，还包括波导镜片，所述镜头和所述传感器分别位于所述波导镜片的两侧；所述传感器与所述波导镜片的波导耦入位置相对应；
3.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，所述滤波片包括设置有大孔径比的不透光片。
4.如权利要求3所述的检测结构，其特征在于，所述不透光片上的所述孔为通孔结构或者导光材料填充。
5.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，所述滤波片包括不透光片，所述不透光片沿厚度方向贯穿设置...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：成都理想境界科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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