一种辊印高度测量方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:42496551 阅读:23 留言:0更新日期:2024-08-22 14:07
本发明专利技术的实施例提供了一种辊印高度测量方法、装置、电子设备及存储介质,涉及钢铁检测技术领域。本发明专利技术通过对深度图预处理,并将深度图划分为背景掩码深度图以及辊印掩码深度图,再由辊印掩码深度图与背景掩码深度图转换得到的背景点云拟合平面得到辊印高度。无需人工采用仪器测量,节省了测量时间,并提高了测量的精准度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及钢铁检测,具体而言,涉及一种辊印高度测量方法、装置、电子设备及存储介质


技术介绍

1、随着技术的不断进步,各行各业对钢材的品质要求不断提高。辊印是钢材的表面缺陷之一,在钢铁生产中,辊印高度的精确测量可以有效提高钢材生产的率以及成材率。

2、现有技术中,一般是通过工作人员使用激光测距仪来完成辊印高度的测量。但这种测量方式往往会产生较大的测量误差,且耗费时间。


技术实现思路

1、本专利技术的目的包括,例如,提供了一种辊印高度测量方法、装置、电子设备及存储介质,其能够至少部分解决上述技术问题。

2、本专利技术的实施例可以这样实现:

3、第一方面,本专利技术实施例提供了一种辊印高度测量方法,应用于控制器;所述方法包括:

4、对获取的深度图进行预处理,得到掩码深度图,所述深度图为存在辊印的深度图;

5、根据所述掩码深度图的掩码值以及辊印位置,将所述掩码深度图划分为背景掩码深度图以及辊印掩码深度图;

6、基于所述背景掩码深度图以及辊印本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种辊印高度测量方法,其特征在于,应用于控制器;所述方法包括:

2.如权利要求1所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述对获取的深度图进行预处理,得到掩码深度图,包括:

3.如权利要求1或2所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述根据所述掩码深度图的掩码值,将所述掩码深度图划分为背景掩码深度图以及辊印掩码深度图,包括:

4.如权利要求3所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述对所述子辊印掩码深度图进行膨胀处理,将膨胀处理后的所述子辊印掩码深度图划分为所述辊印掩码深度图,包括:

5.如权利要求1所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述基于...

【技术特征摘要】

1.一种辊印高度测量方法,其特征在于,应用于控制器;所述方法包括:

2.如权利要求1所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述对获取的深度图进行预处理,得到掩码深度图,包括:

3.如权利要求1或2所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述根据所述掩码深度图的掩码值,将所述掩码深度图划分为背景掩码深度图以及辊印掩码深度图,包括:

4.如权利要求3所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述对所述子辊印掩码深度图进行膨胀处理,将膨胀处理后的所述子辊印掩码深度图划分为所述辊印掩码深度图,包括:

5.如权利要求1所述的辊印高度测量方法,其特征在于,所述基于所述背景掩码深度图以及辊印位置,得到背景点云拟合平面,包括:

6.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:马青坡徐磊李晓琴叶祥陈勇根张盛
申请(专利权)人:上海德托智能工程有限公司
类型:发明
国别省市:

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