基于X射线光谱的矿物分析方法、电子设备和存储介质技术

本发明专利技术涉及矿物分析技术领域，公开了一种基于X射线光谱的矿物分析方法、电子设备和存储介质。关于方法，数字化处理样品中主要元素的大致分布图，获得元素分布表；选择合适的分类器及其参数进行测试，获得最优的矿物分类结果；利用训练集和分类器测试得到的最佳分类器，对元素分布表的数据执行分类，并输出分类结果；根据主要元素的大致分布图的特点与用户需求，对分类结果进行处理；对元素分布表降噪，并输出结果；利用少数点位的高精度成分信息，对降噪后的元素分布表执行标定与拟合，并输出结果；统计数据并输出。本发明专利技术的技术方案，实现了微量、无损、准确、高效、自动化的岩石学与矿物学分析，为行星样品的研究提供方法基础。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及矿物分析，具体涉及一种基于x射线光谱的矿物分析方法、电子设备和存储介质。

技术介绍

1、岩石是地质学最主要的研究对象。能源开发、矿产勘探、环境保护、工程测量、以及最近被视为重点的行星科学都离不开对岩石样本的分析与表征。岩石有许多可以被研究的特征，包括产地、结构、矿物、主量元素、微量元素、同位素等。了解这些特征对于分析岩石的成因，寻找有价值的资源，探究地球及行星的内部构造等至关重要。我们的技术主要关注岩石的矿物类型和矿物成分这两个方面。

2、岩石是矿物的集合体。为了确定岩石中包含的矿物种类，量化每种矿物的占比，研究人员以往采用的方法包括：

3、(1)光学点计数法：将岩石切割成透光的薄片，然后在显微镜下以一定的间隔，对在薄片中观察到的矿物进行定名和计数。当观察点累积到一定数量后，将每种矿物的计数除以总的计数，即得到整块岩石中每种矿物含量的估计。

4、(2)粉末x射线衍射法：将岩石研磨为具有一定粒度的粉末，然后用相干x射线照射得到粉末的衍射图样。对比样品的衍射图样与标准矿物粉末的衍射图样，将样品的衍射峰分解为标准本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于X射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于X射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，所述数字化处理样品中主要元素的大致分布图中，读取所述主要元素的大致分布图的分布及色尺文件，将所述色尺表示的颜色-数值映射关系应用于大致分布图中的每一个像素。

3.根据权利要求1所述的基于X射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，所述选择合适的分类器及其参数进行测试，获得最优的矿物分类结果中，在所述元素分布表中选择每种矿物的典型作为训练集，测试每种所述分类器在对应参数下的性能，输出分类结果的准确度及混淆矩阵；和/或

4.根据权利要求1所...

【技术特征摘要】

1.一种基于x射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于x射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，所述数字化处理样品中主要元素的大致分布图中，读取所述主要元素的大致分布图的分布及色尺文件，将所述色尺表示的颜色-数值映射关系应用于大致分布图中的每一个像素。

3.根据权利要求1所述的基于x射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，所述选择合适的分类器及其参数进行测试，获得最优的矿物分类结果中，在所述元素分布表中选择每种矿物的典型作为训练集，测试每种所述分类器在对应参数下的性能，输出分类结果的准确度及混淆矩阵；和/或

4.根据权利要求1所述的基于x射线光谱的矿物分析方法，其特征在于，所述对所述元素分布表降噪中，选择合适的降噪模型及其参数对所述元素分布表降噪，其中，所述选择基于数值降噪与成分拟合测试的结果。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏遨，黎绕，田伟，
申请(专利权)人：海南红视界科技有限公司，
类型：发明
国别省市：