【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及控制，尤其涉及一种硅胶颗粒生产设备控制方法及系统。
技术介绍
1、硅胶颗粒是一种常见的吸附剂和干燥剂，具有广泛的应用，包括化工、制药、食品、电子等领域。它的主要成分是二氧化硅（sio2），具有很强的吸附性能和化学稳定性。硅胶颗粒的生产过程中，受到环境因素、原材料因素等多种因素的影响，生产过程中硅胶颗粒所吸收的水分无法处于严格的定量状态，因此，需要在生产过程中，实时调整与硅胶颗粒含水量，因此需要实时对生产出来的硅胶颗粒进行检测。
2、硅胶颗粒在吸收水分时颜色会发生变化，使其透光度、重量等参数发生变化。对于硅胶颗粒的含水量的检测，是通过对多个参数进行综合性的计算。其中，对于硅胶颗粒透光度，在产品进行透光度检测过程中，采用光通量检测的方法需要设置传感器，对产品位置具有一定的精度要求。采用图像识别技术时，一般是通过对生产的产品进行第一次拍照后，在加上背光进行第二次拍照，通过对比两次拍照的图像来获取透光率，由于需要进行多次拍照，对于硅胶颗粒生产设备来说，效率较低，生产线的反应较慢，不能及时调整。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种硅胶颗粒生产设备控制方法及系统，以改善上述问题。
2、为达到上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、第一方面，本专利技术实施例提供了一种硅胶颗粒生产设备控制方法，生产设备包括图像获取设备、光源、辅助平面以及控制器，其中，辅助平面为具有光学反射作用的镜面，方法适用于控制器，包括：
4、控制光源沿
5、控制图像获取设备沿第二方向获取目标图像，其中，第二方向与辅助平面之间的夹角为预设角度，且第二方向与第一方向位于同一平面内；
6、基于目标图像确定第一图像与第二图像，第一图像为待检测硅胶颗粒的直接图像，第二图像为待检测硅胶颗粒在辅助平面中的反射图像；
7、基于第一图像与第二图像确定待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于当前透光度对生产设备进行调控。
8、结合第一方面，在一些实施方式中，基于目标图像确定第一图像与第二图像，第一图像为待检测硅胶颗粒的直接图像，第二图像为待检测硅胶颗粒在辅助平面中的反射图像，包括：
9、分割目标图像以形成多个子图像，其中，子图像尺寸远小于待检测硅胶颗粒尺寸；
10、获取待检测硅胶颗粒在光照下的第一视觉特征参数，第一视觉特征参数包括亮度、灰度以及对比度；
11、获取每一个子图像的第二视觉特征参数，将第一视觉特征参数与第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个子图像中的第一目标子图像，第一目标子图像为形成第一图像的子图像；
12、基于多个第一目标子图像在目标图像中确定第一图像。
13、结合第一方面，在一些实施方式中，获取每一个子图像的第二视觉特征参数，将第一视觉特征参数与第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个子图像中的第一目标子图像，第一目标子图像为形成第一图像的子图像，包括：
14、基于第一视觉特征参数确定第一表征参数，第一表征参数满足：
15、；
16、其中，为亮度对应的第一权重，为灰度对应的第二权重，为对比度对应的第三权重，为亮度的数据值,为灰度的数据值,为对比度的数据值；
17、基于第二视觉特征参数确定第二表征参数，若第一表征参数大于第二表征参数，则基于第一表征参数与第二表征参数确定判定值,判定值满足：
18、=（-）；
19、其中，为判定值；
20、将与预设判定值对比，若小于等于预设判定值，则确定第二视觉特征参数对应的子图像为第一目标子图像。
21、结合第一方面，在一些实施方式中，获取每一个子图像的第二视觉特征参数，将第一视觉特征参数与第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个子图像中的第一目标子图像，第一目标子图像为形成第一图像的子图像，还包括：
22、基于第二视觉特征参数确定第二表征参数，若第一表征参数小于第二表征参数，则基于第一表征参数与第二表征参数确定判定值,判定值满足：
23、=（-）；
24、其中，r为判定值。
25、结合第一方面，在一些实施方式中，基于目标图像确定第一图像与第二图像，第一图像为待检测硅胶颗粒的直接图像，第二图像为待检测硅胶颗粒在辅助平面中的反射图像，包括：
26、基于第一图像，确定多个第一图像中的轮廓线图，轮廓线图为第一图像中，每一个待检测硅胶颗粒的轮廓形成线图；
27、镜面翻转多个轮廓线图，并将多个轮廓线图与目标图像拟合，根据拟合的结果，在目标图像中确定出第二图像。
28、结合第一方面，在一些实施方式中，基于第一图像与第二图像确定待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于当前透光度对生产设备进行调控，包括：
29、基于第一图像，确定第一图像的第一平均亮度参数；
30、基于第二图像，确定第二图像的第二平均亮度参数，基于第一平均亮度参数与第二平均亮度参数确定当前透光度。
31、结合第一方面，在一些实施方式中，基于第一图像与第二图像确定待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于当前透光度对生产设备进行调控，包括：
32、将当前透光度与预设透光度相比对，若当前透光度小于预设透光度，则控制生产设备，以使生产设备生产的待检测硅胶颗粒的当前透光度升高。
33、第二方面，本专利技术提出了一种硅胶颗粒生产设备控制系统，该系统被配置为：
34、控制光源沿第一方向照射辅助平面，第一方向与辅助平面之间的夹角为预设角度，预设角度不为90°，辅助平面用于平铺若干待检测硅胶颗粒；
35、控制图像获取设备沿第二方向获取目标图像，其中，第二方向与辅助平面之间的夹角为预设角度，且第二方向与第一方向位于同一平面内；
36、基于目标图像确定第一图像与第二图像，第一图像为待检测硅胶颗粒的直接图像，第二图像为待检测硅胶颗粒在辅助平面中的反射图像；
37、基于第一图像与第二图像确定待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于当前透光度对生产设备进行调控。
38、结合第二方面，在一些实施方式中，该装置被配置为：
39、基于目标图像确定第一图像与第二图像，第一图像为待检测硅胶颗粒的直接图像，第二图像为待检测硅胶颗粒在辅助平面中的反射图像，包括：
40、分割目标图像以形成多个子图像，其中，子图像尺寸远小于待检测硅胶颗粒尺寸；
41、获取待检测硅胶颗粒在光照下的第一视觉特征参数，第一视觉特征参数包括亮度、灰度以及对比度；
42、获取每一个子图像的第二视觉特征参数，将第一视觉特征参数与第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个子图像中的第一目标子图像，第一目标子图像为形成第一图本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，所述生产设备包括图像获取设备、光源、辅助平面以及控制器，其中，所述辅助平面为具有光学反射作用的镜面，所述方法适用于所述控制器，包括：
2.根据权利要求1所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，基于所述目标图像确定第一图像与第二图像，所述第一图像为所述待检测硅胶颗粒的直接图像，所述第二图像为所述待检测硅胶颗粒在所述辅助平面中的反射图像，包括：
3.根据权利要求2所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，获取每一个所述子图像的第二视觉特征参数，将所述第一视觉特征参数与所述第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个所述子图像中的第一目标子图像，所述第一目标子图像为形成所述第一图像的所述子图像，包括：
4.根据权利要求3所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，获取每一个所述子图像的第二视觉特征参数，将所述第一视觉特征参数与所述第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个所述子图像中的第一目标子图像，所述第一目标子图像为形成所述第一图像的所述子图像，还包括：
5
6.根据权利要求5所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，基于所述第一图像与所述第二图像确定所述待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于所述当前透光度对所述生产设备进行调控，包括：
7.根据权利要求6所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，基于所述第一图像与所述第二图像确定所述待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于所述当前透光度对所述生产设备进行调控，包括：
8.根据权利要求7所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，基于所述第一图像与所述第二图像确定所述待检测硅胶颗粒的当前透光度，基于所述当前透光度对所述生产设备进行调控，包括：
9.一种硅胶颗粒生产设备控制系统，其特征在于，所述系统被配置为：
10.一种电子设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，所述生产设备包括图像获取设备、光源、辅助平面以及控制器，其中，所述辅助平面为具有光学反射作用的镜面，所述方法适用于所述控制器，包括：
2.根据权利要求1所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，基于所述目标图像确定第一图像与第二图像，所述第一图像为所述待检测硅胶颗粒的直接图像，所述第二图像为所述待检测硅胶颗粒在所述辅助平面中的反射图像，包括：
3.根据权利要求2所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，获取每一个所述子图像的第二视觉特征参数，将所述第一视觉特征参数与所述第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个所述子图像中的第一目标子图像，所述第一目标子图像为形成所述第一图像的所述子图像，包括：
4.根据权利要求3所述的一种硅胶颗粒生产设备控制方法，其特征在于，获取每一个所述子图像的第二视觉特征参数，将所述第一视觉特征参数与所述第二视觉特征参数进行匹配，根据匹配的结果，确定多个所述子图像中的第一目标子图像，所述第一目标子图像为形成所述第一图像的所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李腾飞，
申请(专利权)人：乳山市东方硅胶有限公司，
类型：发明
国别省市：
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