【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ct成像，特别是一种基于积分不变性的单电压下ct图像硬化伪影校正方法。
技术介绍
1、常规ct系统射线源发出的x射线是连续宽能谱的，穿过物体时，低能量射线比高能量射线衰减更快，x射线束平均能量变高，导致重建的ct图像产生硬化伪影，使得ct图像像素值不仅与材料有关，还与像素所在位置有关，表现为“同物异影”和“同影异物”现象。解决此问题的硬化伪影校正方法，通常分为硬件校正方法和软件校正方法。硬件校正方法需要额外增加硬件或改动现有系统硬件，增加了成像成本。常见软件校正方法有多能(双能)成像校正法、线性化方法、统计迭代重建等。多能ct成像需要采集多个能量的投影数据，需要多次扫描或采用更为先进的双能探测器、光子计数型探测器等。多次扫描降低了成像效率，更为先进的探测器则需要更高的硬件成本。线性化方法通过多项式拟合获取得材质厚度与连续能谱下投影值的关系，对连续谱投影校正，这需要制作额外的特定形状样品采集数据用于多项式系数求取。统计迭代重建方法则需要知道当前电压下x射线能谱，这需要额外的实验测量，并且重建速度较慢。可见，现有利用投影分解进...
【技术保护点】
1.一种基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，其特征在于，所述步骤1具体如下：
3.根据权利要求2所述的基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，其特征在于，所述步骤2具体如下：
4.根据权利要求3所述的基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，其特征在于，在步骤3中的积分不变性等式如下：
5.根据权利要求4所述的基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，其特征在于，所述步骤3具体如下：
【技术特征摘要】
1.一种基于积分不变性的单电压下ct图像硬化伪影校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于积分不变性的单电压下ct图像硬化伪影校正方法，其特征在于，所述步骤1具体如下：
3.根据权利要求2所述的基于积分不变性的单电压下ct图像硬化伪影校正方...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏交统，吴泱序，王苏恺，赵晓杰，陈平，刘宾，孔慧华，
申请(专利权)人：中北大学，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。