方法、测量系统控制器和测量系统技术方案

技术编号:42451912 阅读:20 留言:0更新日期:2024-08-21 12:44
本公开提供了一种用于操作测量系统的方法,该测量系统包括至少一种测量应用设备,该方法包括接收测量系统中提供的控制命令序列,自动优化所记录的控制命令序列以提高测量系统中控制命令序列的执行速度,以及根据优化的控制命令序列来控制测量系统。此外,本公开还提供了相应的测量系统控制器和相应的测量系统。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及一种操作测量系统的方法。此外,本公开还涉及一种测量系统控制器和一种测量系统。


技术介绍

1、尽管本公开适用于任何类型的测量应用设备,但本公开将主要结合多个测量应用设备的设置进行描述。

2、在现代电子产品开发和维护过程中,通常需要执行多项测量任务。

3、在复杂的测量系统中,可对单个测量应用设备手动地或通过类似scpi控制命令的控制命令集进行编程。

4、在对具有多个测量应用设备的复杂测量系统进行编程时,用户可能会提供非最佳控制命令序列。

5、因此,有必要对测量系统的控制进行改进。


技术实现思路

1、上述问题通过独立权利要求的特征来解决。应当理解,可以类比于另一权利要求类别的从属权利要求类似地形成该类别的独立权利要求。

2、因此,本公开提供了:

3、一种用于操作测量系统的方法,特别是计算机实现的方法,该测量系统包括至少一个测量应用设备,该方法包括:接收测量系统中提供的控制命令序列,自动优化所记录的控制命令序列以提高测量系统中控制命令序本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于操作测量系统的方法,所述测量系统包括至少一种测量应用设备,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其中自动优化还包括单独优化每个优化的子序列,并存储所述优化的子序列,以及

4.根据权利要求3所述的方法,还包括为所述优化的子序列中的每一个分配单独的ID。

5.根据权利要求1所述的方法,还包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其中,如果在所接收的控制命令序列中识别出子序列的至少预定数量的控制命令,则识别出子序列。

7.根据权利要求2所述的方法,其中,所述子序列中的...

【技术特征摘要】

1.一种用于操作测量系统的方法,所述测量系统包括至少一种测量应用设备,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其中自动优化还包括单独优化每个优化的子序列,并存储所述优化的子序列,以及

4.根据权利要求3所述的方法,还包括为所述优化的子序列中的每一个分配单独的id。

5.根据权利要求1所述的方法,还包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其中,如果在所接收的控制命令序列中识别出子序列的至少预定数量的控制命令,则识别出子序列。

7.根据权利要求2所述的方法,其中,所述子序列中的每一个包括用于所述测量系统的特定测量应用设备的控制命令。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,当进行自动优化时,预定的控制命令不进行优化。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,自动优化还包括以下至少一项:

10.根据权利要求1所述的方法,其中,自动优化还包括:

11.根据权利要求1所述的方法,其中,当所述测量系统包括两个或多个测量应用设备时,自动优化还包括:

12.根据权利要求1所述的方法,其中,在接收控制命令序列时,单个控制命令是在以下至少一种情况下接收的:

13.一种用于操作测量系统的测量系统控制器,所述测量系统控制器包括:

14.根据权利要求13所述的测量系统控制器,还...

【专利技术属性】
技术研发人员:B·施密德S·勒格林格T·舒温克F·朗J·普利凯特
申请(专利权)人:罗德施瓦兹两合股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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