【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体器件检测，尤其涉及一种半导体器件的表面缺陷检测装置。
技术介绍
1、半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材，在半导体器件生产后，需要对半导体器件的表面缺陷进行检测，防止不合格产品流入市场。
2、现有技术中，在对半导体器件的表面缺陷进行检测时，通过机器视觉技术采集半导体器件的表面图像信息，但半导体器件表面的粉尘杂质容易对采集的图像信息造成影响，导致后续的缺陷识别不准确，影响检测结果。
技术实现思路
1、本技术主要提供一种提高检测结果准确性、防止采集图像残缺的半导体器件的表面缺陷检测装置。
2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体器件的表面缺陷检测装置，包括检测台，所述检测台的一侧固定连接有安装框，所述安装框的内侧设置有清理机构，所述清理机...
【技术保护点】
1.一种半导体器件的表面缺陷检测装置，包括检测台(1)，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的半导体器件的表面缺陷检测装置，其特征在于：所述移动框(901)的内侧固定连接有第二导向杆(902)，所述第二导向杆(902)的外部与移动板(906)的一侧滑动连接。
3.根据权利要求1所述的半导体器件的表面缺陷检测装置，其特征在于：所述检测台(1)的一侧固定连接有第一电机(4)，所述第一电机(4)的输出端穿过检测台(1)的一侧固定连接有螺纹杆(3)，所述螺纹杆(3)的一端转动连接在检测台(1)的另一侧，所述螺纹杆(3)的外部螺纹连接有移动块(7)，所述...
【技术特征摘要】
1.一种半导体器件的表面缺陷检测装置，包括检测台(1)，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的半导体器件的表面缺陷检测装置，其特征在于：所述移动框(901)的内侧固定连接有第二导向杆(902)，所述第二导向杆(902)的外部与移动板(906)的一侧滑动连接。
3.根据权利要求1所述的半导体器件的表面缺陷检测装置，其特征在于：所述检测台(1)的一侧固定连接有第一电机(4)，所述第一电机(4)的输出端穿过检测台(1)的一侧固定连接有螺纹杆(3)，所述螺纹杆(3)的一端转动连接在检测台(1)的另一侧，所述螺纹杆(3)的外部螺纹连接有移动块(7)，所述移动块(7)的一侧滑动连接有第一导向杆(2)，所述第一导向杆(2)的一端与检测台(1)的一侧固定连接。
4.根据权利要求3所述的半导体器件的表面缺陷检测装置，其特征在于：所述移动块(7)的一侧开设有定位孔(8)。
5.根据权利要求1所述的半导体器件的表面缺...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩智强，吴昌利，
申请(专利权)人：苏州楷创乐电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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