【技术实现步骤摘要】
本技术涉及传感器校验，特别是一种基于单极探针的特高频传感器校验装置。
技术介绍
1、特高频局部放电检测是输变电设备尤其是gis/gil类设备缺陷的主要监测手段，已在电力行业广泛应用。目前已有的特高频局部放电带电检测装置数量较多，为保证检测装置在电气设备运行过程中能及时准确地发现局部放电故障，需要对检测装置进行有效校验，尤其是对其特高频传感器有效高度进行校验。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题是提供一种基于单极探针的特高频传感器校验装置，对特高频传感器有效高度进行校验。
2、为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是：
3、基于单极探针的特高频传感器校验装置，包括标定信号源，标定信号源通过射频同轴线缆与gtem小室的馈电端口连接，gtem小室的顶端设有传感器耦合窗口，传感器耦合窗口处设有测试工装分别与单极探针参考传感器和被测特高频传感器连接，单极探针参考传感器和被测特高频传感器通过射频同轴线缆与示波器连接。
4、上述的测试工装包括接地板，单极探针参考传感器或者被测特高频传感器通过安装法兰安装于接地板。
5、上述的安装法兰为金属空心结构，其内径大于单极探针参考传感器或者被测特高频传感器。
6、本技术提供的一种基于单极探针的特高频传感器校验装置，本技术的有益效果在于，与现有技术相比，本技术通过标定信号源模拟不同的脉冲信号，通过射频同轴电缆传输到gtem小室，在gtem小室中形成电场信号，从而被测特高频传感器及单极探针
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1.基于单极探针的特高频传感器校验装置，其特征是：包括标定信号源（1），标定信号源（1）通过射频同轴线缆（8）与GTEM小室（2）的馈电端口连接，GTEM小室（2）的顶端设有传感器耦合窗口（7），传感器耦合窗口（7）处设有测试工装（6）分别与单极探针参考传感器（3）和被测特高频传感器（5）连接，单极探针参考传感器（3）和被测特高频传感器（5）通过射频同轴线缆（8）与示波器（4）连接。
2.根据权利要求1所述的基于单极探针的特高频传感器校验装置，其特征在于，所述的测试工装（6）包括接地板（10），单极探针参考传感器（3）或者被测特高频传感器（5）通过安装法兰（9）安装于接地板（10）。
3.根据权利要求2所述的基于单极探针的特高频传感器校验装置，其特征在于，所述的安装法兰（9）为金属空心结构，其内径大于单极探针参考传感器（3）或者被测特高频传感器（5）。
【技术特征摘要】
1.基于单极探针的特高频传感器校验装置，其特征是：包括标定信号源（1），标定信号源（1）通过射频同轴线缆（8）与gtem小室（2）的馈电端口连接，gtem小室（2）的顶端设有传感器耦合窗口（7），传感器耦合窗口（7）处设有测试工装（6）分别与单极探针参考传感器（3）和被测特高频传感器（5）连接，单极探针参考传感器（3）和被测特高频传感器（5）通过射频同轴线缆（8）与示波器（4）连接。
...【专利技术属性】
技术研发人员：郭钰静，冉应兵，关苏敏，曹慧明，
申请(专利权)人：中国长江电力股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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