基于超构表面的线光源旋转扫描成像系统、方法及应用技术方案

本发明专利技术公开了一种基于超构表面的线光源旋转扫描成像系统、方法及应用。所述系统包括沿光线传播方向设置的太赫兹发光单元、超构表面单元以及采集单元；太赫兹发光单元用于提供准直的太赫兹光，超构表面单元用于使太赫兹光聚焦形成条状光斑；被测物体被条状光斑透射，且条状光斑以光线传播方向为轴进行旋转运动；采集单元用于接收透射被测物体的太赫兹光并形成信号数据，信号数据用于分析被测物体的结构信息。本发明专利技术所提供的线光源旋转扫描成像系统及方法在太赫兹无损检测系统中使用了超构表面，实现了对高斯波束的线型均匀聚光效果、简化了系统结构，增加了系统的信噪比，同时还可以简化后处理过程，加快系统检测速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无损检测，尤其涉及一种基于超构表面的线光源旋转扫描成像系统、方法及应用。

技术介绍

1、复合材料以其轻质、高强、良好的延展性、防腐性、可灵活制备和易加工的特性，在航天隔热、固体火箭发动机壳体及导弹天线罩等领域得到广泛应用。然而，复杂的成型过程和加工中的微小不确定性因素导致材料结构内不可避免地出现缺陷。在使用过程中，复合材料还可能遭受各种损伤，这些缺陷和损伤极大地威胁了复合材料的使用安全。

2、位于微波和红外波段之间的太赫兹波，相较于微波其波长较短和带宽较大，提供了更高的分辨率。太赫兹波的非接触式检测特性使其在分辨率方面超过了超声波成像技术，成为无损检测领域的一种新兴且重要技术。特别是，太赫兹波对复合材料具有良好的穿透能力，使其能够对复合材料内部进行无损检测。目前的透射式太赫兹无损检测系统大多可归为三类，一类是点扫描式太赫兹检测系统，一类是线扫描式太赫兹检测系统，一类是焦平面式太赫兹检测系统。

3、点扫描式太赫兹检测系统(下文简称点扫描系统)的运行原理如下，太赫兹波从太赫兹源出射后，经准直透镜转化为平面波，后经凸透镜聚焦本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于超构表面的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，包括沿光线传播方向设置的太赫兹发光单元、超构表面单元以及采集单元；

2.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，所述太赫兹发光单元包括依次设置的太赫兹光源以及准直透镜，所述太赫兹光源用于产生太赫兹光，所述准直透镜用于使所述太赫兹光形成平行准直光。

3.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，所述超构表面单元包括超构表面器件，所述超构表面器件具有所述超构表面结构；

4.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，所述超构表面结构的相位设计使沿所述条状光斑...

【技术特征摘要】

1.一种基于超构表面的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，包括沿光线传播方向设置的太赫兹发光单元、超构表面单元以及采集单元；

2.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，所述太赫兹发光单元包括依次设置的太赫兹光源以及准直透镜，所述太赫兹光源用于产生太赫兹光，所述准直透镜用于使所述太赫兹光形成平行准直光。

3.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，所述超构表面单元包括超构表面器件，所述超构表面器件具有所述超构表面结构；

4.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，所述超构表面结构的相位设计使沿所述条状光斑的长度方向，所述太赫兹光的幅值是均一的。

5.根据权利要求1所述的线光源旋转扫描成像系统，其特征在于，沿所述光线传播方向，所述超构表面结构包括依次设置的减反射...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦华，蔡昕航，周奇，王凯出，靳琳，王懋，张金峰，
申请(专利权)人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，
类型：发明
国别省市：