扫描校正参数确定方法、装置及设备制造方法及图纸

技术编号:42399416 阅读:26 留言:0更新日期:2024-08-16 16:21
本申请实施例提供的一种扫描校正参数确定方法、装置及设备,所述方法包括:开启扫描光束并控制目标传感器扫描第一参考区域的各行图像,得到第一扫描数据;开启扫描光束并控制目标传感器扫描第二参考区域的各行图像,得到第二扫描数据;获取第一参考区域对应的第一目标扫描数据、以及第二参考区域对应的第二目标扫描数据;根据第一扫描数据、第二扫描数据、第一目标扫描数据以及第二目标扫描参数,计算扫描校正参数。通过上述方案,可以确定不同光学传感器对应的扫描校正参数,从而对扫描图像进行亮度校正,提升扫描图像的成像效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及图像形成,具体地涉及一种扫描校正参数确定方法、装置及设备


技术介绍

1、现如今,许多成像设备都具备图像扫描功能,其基本原理是,控制光学传感器生成扫描光束,并扫描待扫描图像;进而,利用光学传感器接收待扫描图像反射的光信号。由于光信号中携带有图像的亮度以及色彩信息,因此,可基于接收到的光信号生成图像扫描结果。

2、但是,不同光学传感器的感光特性存在差异,且同一光学传感器中不同感光单元之间的感光特性也不完全相同,因此,生成的图像扫描结果可能会出现明暗交替的条纹,影响成像效果。因此,有必要确定光学传感器对应的扫描校正参数,用于对图像扫描结果进行校正。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供一种扫描校正参数确定方法、装置及设备,用于确定不同光学传感器对应的扫描校正参数,从而对扫描图像进行亮度校正,提升扫描图像的成像效果。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种扫描校正参数确定方法,包括:开启扫描光束并控制目标传感器依次扫描第一参考区域的各行图像,得到各行图像对应的第一扫描数据;第一参考本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种扫描校正参数确定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述第一扫描数据、所述第二扫描数据、所述第一目标扫描数据以及所述第二目标扫描参数,计算所述目标传感器扫描各行图像获取到的各像素对应的扫描校正参数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述第一列平均值、所述第二列平均值、所述第一目标扫描数据以及所述第二目标扫描参数,计算所述目标传感器扫描各行图像获取到的各像素对应的扫描校正参数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述扫描校正参数包括偏移校正参数以及增益校正参数。

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【技术特征摘要】

1.一种扫描校正参数确定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述第一扫描数据、所述第二扫描数据、所述第一目标扫描数据以及所述第二目标扫描参数,计算所述目标传感器扫描各行图像获取到的各像素对应的扫描校正参数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述第一列平均值、所述第二列平均值、所述第一目标扫描数据以及所述第二目标扫描参数,计算所述目标传感器扫描各行图像获取到的各像素对应的扫描校正参数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述扫描校正参数包括偏移校正参数以及增益校正参数。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:张芸
申请(专利权)人:珠海奔图电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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