一种针对Bi2212超导线材的高效X射线衍射分析方法技术

本发明专利技术公开了一种针对Bi2212超导线材的高效X射线衍射分析方法，包括以下步骤：步骤一、线材处理；步骤二、去除Ag层；步骤三、超导芯露出；步骤四、重新覆盖Ag层并压制；步骤五、XRD分析，得到Bi2212超导线材的X射线衍射结果。本发明专利技术通过将线材进行挤压，剪切去除Ag层，超导芯露出和重新覆盖Ag层并压制，显著提高超导芯的暴露面积和检测面上的超导相占比，最后进行衍射分析，从而更准确地分析Bi2212线材的相结构和性能，显著提高了XRD分析的准确性和效率，以获得准确的Bi2212超导相的衍射峰和其他相的XRD衍射图谱，降低了分析成本和时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于bi2212高温超导线材分析研究，具体涉及一种针对bi2212超导线材的高效x射线衍射分析方法。

技术介绍

1、bi2212线材作为一种独特的高温超导材料，包括外层的银包套和内部的多根超导芯，每根超导芯均由填充超导粉末的银管组成，其圆线形态和出色的性能使其在超高磁场和高载流场合中广受欢迎，尤其在聚变、加速器以及核磁共振磁体等领域应用广泛。然而，为了进一步提升这种线材的载流性能，对材料内部结构的深入分析变得尤为关键。x射线衍射(xrd)分析作为一种非破坏性的技术手段，对于超导材料的相结构、晶体取向以及微观应力等研究具有重要意义。

2、然而，传统的xrd分析技术在应用于bi2212线材时面临诸多挑战。线材的微小尺寸(直径仅为0.8-1mm)以及超导芯的精细结构(直径仅20微米，且超导与ag的比例低于20％)使得准确捕捉超导相中的第二相成分或含量变得异常困难。虽然聚焦离子束(fib)制样结合透射电子显微镜(tem)分析能够提供所需的高分辨率信息，但这种方法不仅成本高昂(至少1万元/样)，而且耗时(数天)，极大地限制了其在科研和生产中的应本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种针对Bi2212超导线材的高效X射线衍射分析方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种针对Bi2212超导线材的高效X射线衍射分析方法，其特征在于，步骤一中所述Bi2212超导线材的直径为0.8mm～1mm，所述挤压为轧制或压制，所述带材的宽度为3mm～4mm。

3.根据权利要求1所述的一种针对Bi2212超导线材的高效X射线衍射分析方法，其特征在于，步骤二中所述剪切的两侧边缘的宽度均大于0.2mm。

4.根据权利要求1所述的一种针对Bi2212超导线材的高效X射线衍射分析方法，其特征在于，步骤三中所述切割的过程为：采...

【技术特征摘要】

1.一种针对bi2212超导线材的高效x射线衍射分析方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种针对bi2212超导线材的高效x射线衍射分析方法，其特征在于，步骤一中所述bi2212超导线材的直径为0.8mm～1mm，所述挤压为轧制或压制，所述带材的宽度为3mm～4mm。

3.根据权利要求1所述的一种针对bi2212超导线材的高效x射线衍射分析方法，其特征在于，步骤二中所述剪切的两侧边缘的宽度均大于0.2mm。

4.根据权利要求1所述的一种针对bi2212超导线材的高效x射线衍射分析方法，其特征在于，步骤三中所述切割的过程为：采用刀片沿裁剪带材长度方向进行切割，在上层a...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝清滨，徐晓燕，焦高峰，姚凯，刘国庆，刘学谦，
申请(专利权)人：西北有色金属研究院，
类型：发明
国别省市：