【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及校准光谱仪，诸如质谱仪。更具体地，本专利技术涉及校准具有至少两种类型的具有不同检测范围的离子检测模式的质谱仪。
技术介绍
1、质谱仪可利用多于一种类型的离子检测器和/或离子检测模式用于检测离子。使用等离子体离子源诸如电感耦合等离子体(icp)源的质谱仪可具有计数离子检测模式、模拟离子检测模式和法拉第离子检测模式。在计数模式中，对各个离子进行计数，而在模拟模式中，碰撞离子引起被测量的电流。在法拉第模式中，也测量电流。
2、美国专利us 5 463 219公开了一种具有同时模式电子倍增器检测器的质量分析器系统，该检测器输出脉冲计数和模拟信号两者。根据离子通量强度，这些信号定义其中仅脉冲计数信号有效的仅脉冲计数区域、其中脉冲计数和模拟信号两者都有效的重叠区域、其中仅模拟信号有效的仅模拟信号区域、以及其中没有任一信号有效的既非模拟也非脉冲区域。
3、具有多个检测区域可增大检测的动态范围并且可改善某些范围中离子检测的准确度，但是仅在不同离子检测器类型相对于彼此被校准的情况下才能实现。即，检测结果应当独立于所使...
【技术保护点】
1.一种校准质谱仪的方法，所述质谱仪包括具有第一离子强度测量范围的第一类型的至少一个离子检测器和具有第二离子强度测量范围的第二类型的至少一个离子检测器，其中所述第一离子强度测量范围和所述第二离子强度测量范围共享重叠范围，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述清洗周期包括检测用于控制自动进样器的清洗信号。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中检测所述清洗周期包括检测接近零的离子强度。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中检测所述清洗周期包括首先测量高于所述重叠范围的离子强度、然后测量低于所述重叠范围的离子
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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种校准质谱仪的方法，所述质谱仪包括具有第一离子强度测量范围的第一类型的至少一个离子检测器和具有第二离子强度测量范围的第二类型的至少一个离子检测器，其中所述第一离子强度测量范围和所述第二离子强度测量范围共享重叠范围，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述清洗周期包括检测用于控制自动进样器的清洗信号。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中检测所述清洗周期包括检测接近零的离子强度。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中检测所述清洗周期包括首先测量高于所述重叠范围的离子强度、然后测量低于所述重叠范围的离子强度。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中利用所述第一类型的所述至少一个离子检测器和所述第二类型的所述至少一个离子检测器测量所述离子强度以生成所述第一测量离子强度和所述第二测量离子强度是在紧接在所述清洗周期之后的恢复周期期间进行的。
6.根据权利要求5所述的方法，其中所述恢复周期具有与所述清洗周期...
【专利技术属性】
技术研发人员：HJ·舒鲁特，
申请(专利权)人：塞莫费雪科学不来梅有限公司，
类型：发明
国别省市：
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