用于首次失败即停止测试的测试序列制造技术

技术编号:42374969 阅读:20 留言:0更新日期:2024-08-16 14:59
用于首次失败即停止测试的测试序列。本发明专利技术涉及确定测试序列的计算机实现的方法(500)。测试序列定义了使用首次失败即停止对产品实例执行多个测试的顺序次序。访问一个或多个测试数据实例。测试数据实例表示针对产品实例的相应测试的相应结果。访问表示执行相应测试的成本的测试成本值。对顺序执行优化。优化被配置成最小化使用首次失败即停止根据顺序次序执行多个测试的预期成本。预期成本是从一个或多个测试数据实例和测试成本值来确定的。输出表示测试序列的所确定的顺序次序的数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种确定测试序列的计算机实现的方法;涉及一种用于确定测试序列的系统;并且涉及一种包括这样的系统的测试系统。本专利技术进一步涉及一种计算机可读介质。


技术介绍

1、在制造过程中,通常执行自动测试以检查产品已经被成功制造和/或符合质量保证要求:例如,所制造的电路按预期表现;所制造的物理对象具有符合规范的尺寸;等等。

2、在许多情况下,需要对产品的实例执行多个测试,并且该产品需要通过所有测试。在这样的情况下,可以执行“首次失败即停止”测试:测试可以被顺序地应用于产品,其中一旦这些测试中的一个失败,测试就可以停止。这种方式,可以防止执行与总体结果无关的附加测试。这种操作模式常常释放附加的测试能力,因为执行测试的机器或人员可以继续到下一个部件,而不必测试已经已知有缺陷的部件。

3、执行首次失败即停止测试的测试的次序可以依赖于测试之间的关系,例如,一个测试可能需要在另一个测试之后执行,因为它针对其操作假定另一个测试已经成功。

4、一般来说,首次失败即停止测试可以被应用于宽范围的应用中;例如半导体、电子器件、机械部件以及本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种确定测试序列的计算机实现的方法(500),其中所述测试序列定义了使用首次失败即停止对产品的实例执行多个测试的顺序次序,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法(500),其中所述优化被配置成最小化根据顺序次序并且根据测试成本值对相应测试数据实例执行所述多个测试的相应成本的总和。

3.根据权利要求1或2所述的方法(500),其中所述测试序列由图形中的路径表示,其中测试序列的预期成本对应于所述路径的成本函数,并且其中顺序次序的优化由图形优化算法来执行。

4.根据权利要求3所述的方法(500),其中所述图形优化算法是2-opt局部搜索。

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【技术特征摘要】

1.一种确定测试序列的计算机实现的方法(500),其中所述测试序列定义了使用首次失败即停止对产品的实例执行多个测试的顺序次序,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法(500),其中所述优化被配置成最小化根据顺序次序并且根据测试成本值对相应测试数据实例执行所述多个测试的相应成本的总和。

3.根据权利要求1或2所述的方法(500),其中所述测试序列由图形中的路径表示,其中测试序列的预期成本对应于所述路径的成本函数,并且其中顺序次序的优化由图形优化算法来执行。

4.根据权利要求3所述的方法(500),其中所述图形优化算法是2-opt局部搜索。

5.根据权利要求1或2所述的方法(500),其中所述优化是使用具有黑盒功能的求解器来执行的。

6.根据任一项前述权利要求所述的方法(500),包括获得表示对测试的顺序次序的一个或多个约束的数据,并且受制于所述一个或多个约束来执行优化。

7.根据权利要求6所述的方法(500),其中所述约束强制:

8.根据任一...

【专利技术属性】
技术研发人员:S·拜尔M·雅努斯
申请(专利权)人:罗伯特·博世有限公司
类型:发明
国别省市:

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