基于红外激光的干扰评估方法技术

本发明专利技术属于红外成像制导技术领域，尤其涉及一种基于红外激光的干扰评估方法。包括：S1：搭建激光干扰实验平台，并利用激光干扰实验平台获取不同目标位置和不同激光功率下的激光干扰图像；S2：基于轮廓曲率的Canny算法对各激光干扰图像进行边缘提取预处理；S3：基于互相关模板匹配算法对原始图像和预处理后的各激光干扰图像进行图像匹配，获得原始图像和预处理后的各激光干扰图像的归一化相关度值；S4：根据原始图像和预处理后的各激光干扰图像的归一化相关度值构建评价函数，并利用评价函数对待判别激光干扰图像进行干扰评估。本发明专利技术的评估结果更具客观性和实用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于红外成像制导，尤其涉及一种基于红外激光的干扰评估方法。

技术介绍

1、长波红外激光压制干扰会使红外成像设备造成饱和或损伤，从而干扰、延迟或破坏对目标的感知、识别、追踪和打击能力。传统的光电干扰评估系统包括红外传感器、干扰源和评估设备。红外传感器用于接收目标发出的红外信号，干扰源通过发射特定频率或模式的激光束对红外传感器进行干扰，评估设备用于分析红外传感器接收到的信号，评估激光光束对红外传感器的检测性能所造成的影响。这种评估方法是利用红外成像系统在跟踪识别方面的特性，通过深入分析激光干扰前后的图像的特征变化，通过引入不同的评价因子，来量化激光干扰对目标检测算法的性能的影响。但现有的激光干扰评估方法大多体现在评价干扰前后的图像质量变化，局限于某一特定方面的评估，无法全面考虑激光对整体红外成像系统的目标检测性能的综合影响，并且评估方法缺乏统一的标准和规范，在不同研究中采用的评价指标和算法各不相同，缺乏对比性。同时，一些评估方法还需要复杂的图像处理、数据分析和算法得以实现，操作复杂且耗时，在实际应用中具有效率低和可行性低等缺点。</p>
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【技术保护点】

1.一种基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：步骤S2具体包括如下步骤：

3.根据权利要求2所述的基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：在步骤S24中，将轮廓曲率值在0.5~1之间的边缘作为强边缘，将轮廓曲率值在0~0.5之间的边缘作为弱边缘，将轮廓曲率值小于0的边缘作为非边缘。

4.根据权利要求1所述的基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：在步骤S3中，所述原始图像的获取方法为：在关闭所述CO2重频脉冲激光器的前提下，利用所述激光干扰实验平台对待识别目标进行成像...

【技术特征摘要】

1.一种基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：步骤s2具体包括如下步骤：

3.根据权利要求2所述的基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：在步骤s24中，将轮廓曲率值在0.5~1之间的边缘作为强边缘，将轮廓曲率值在0~0.5之间的边缘作为弱边缘，将轮廓曲率值小于0的边缘作为非边缘。

4.根据权利要求1所述的基于红外激光的干扰评估方法，其特征在于：在步骤s3中，所述原始图像的获取方法为：在关闭所述co2重频脉冲激光器的前提下，利用所述激光干扰实验平台对待识别目标进行成像。

5.根据权利要求4所述的基于红外激光的干扰评估...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵俊峰，郑含宇，郑长彬，孙涛，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：