【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁共振成像，具体而言，涉及一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法。
技术介绍
1、磁共振弥散加权成像（dwi）是磁共振成像（mri）中的一种重要技术，广泛应用于脑部疾病的诊断和研究。dwi通过检测水分子在组织中的随机运动（弥散）来提供组织微观结构的信息，特别适用于急性脑卒中、肿瘤和炎症等疾病的诊断。传统的dwi方法通常在高场（如1.5t或3.0t）磁共振系统中进行，这些系统能够提供较高的信噪比和图像分辨率。然而，在超低场（如0.055t）条件下，由于信噪比低、磁场不均匀性较差、磁场温漂等问题，传统的dwi方法难以获得高质量的图像。
技术实现思路
1、为了克服上述问题或者至少部分地解决上述问题，本专利技术提供一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，通过采用多层编码和相位标记技术，并使用改进图像重建算法来提高超低场条件下基于2d se epi成像dwi图像质量，显著提高了图像信噪比、改善了图像伪影和几何畸变。
2、为解决上述技术问题，本专利技术...
【技术保护点】
1.一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，所述利用多层编码和相位标记技术开发适用于超低场的基于2D SE EPI的DWI成像序列的方法包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，所述在编码后的2D SE EPI的DWI成像序列中融入基于相位标记附加坐标编码技术的方法包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权...
【技术特征摘要】
1.一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，所述利用多层编码和相位标记技术开发适用于超低场的基于2d se epi的dwi成像序列的方法包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，所述在编码后的2d se epi的dwi成像序列中融入基于相位标记附加坐标编码技术的方法包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法，其特征在于，三个正交方向...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖林芳，朱瑞星，
申请(专利权)人：杭州微影医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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