【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于存储，特别涉及一种存储芯片的测试方法及测试系统。
技术介绍
1、固态存储器是一种新型的存储设备，使用固态存储器制成可以制成多种存储芯片，例如包括固态硬盘，嵌入式多媒体存储卡，通用闪存存储，安全卡等存储芯片。主机会对存储芯片进行读出或写入等前台操作，而在读出和写入的过程中，会产生数据碎片。当存储芯片的前台操作暂停一段时间后，存储芯片内部会需要进行碎片回收等后台操作，以保证存储芯片的读写性能。
2、但是每种存储芯片的后台操作的启动时间和工作时长等相关信息都是厂家自己定义的。故在对其他厂家的产品进行分析，进而提升自身产品品质时，无法有效获取关于存储芯片后台操作的相关信息。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种存储芯片的测试方法及测试系统，可解决无法有效获取关于存储芯片后台操作的相关信息的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种存储芯片的测试方法及测试系统，且所述存储芯片的测试方法至少包括以下步骤：
3、向存储芯片内持续写入数据，直...
【技术保护点】
1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，所述存储芯片的测试方法还包括获取后台操作的启动时间。
3.根据权利要求2所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，获取所述后台操作的启动时间包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在获取所述后台操作的启动时间后，所述存储芯片的测试方法还包括以下步骤：在所述供电电流恢复到非零值时，重新计时，直至所述供电电流再次降为零，将此时的计时时间作为所述后台操作耗时。
5.根据权利...
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，所述存储芯片的测试方法还包括获取后台操作的启动时间。
3.根据权利要求2所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，获取所述后台操作的启动时间包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在获取所述后台操作的启动时间后，所述存储芯片的测试方法还包括以下步骤：在所述供电电流恢复到非零值时，重新计时，直至所述供电电流再次降为零，将此时的计时时间作为所述后台操作耗时。
5.根据权利要求2所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，初始的所述预设...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈文涛，许建强，苏忠益，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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