【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于图像传感，具体涉及一种暗场景成像的暗电平校正方法。
技术介绍
1、在全黑条件下，图像传感器没有感受到光线但此时图像信号并不为零，这种情况下信号值称之为暗电平值。暗电平值会影响图像的质量以及后续的图像处理，尤其是随着温度升高，暗电流急剧增加，因此需要进行暗电平校正。
2、目前，常见的校正方法是在图像传感器像素区域把一些像素进行遮挡来获得暗像素(ob，optical black，即无法感光的像素)，用该图像信号值作为暗电平参考值，消除暗电流的影响。但是这种方案需要留出空间设置单独的暗像素，通常是几行或几列，从而降低了像素区域中有效像素的面积。图像传感器整体尺寸要尽可能地的小，这样相同尺寸的晶圆上可以得到更多数目的芯片，而暗像素的设置造成了芯片面积的浪费，增加了芯片制造成本。
技术实现思路
1、针对
技术介绍
中所提及的问题，本专利技术提出一种暗场景成像的暗电平校正方法，其具体通过以下技术手段实现：
2、暗场景成像的暗电平校正方法，包括以下步骤：
3...
【技术保护点】
1.一种暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，所述暗电平值Soff是单次采样获得的图像信号值，或者是通过两次以上采样获得的图像信号值的均值。
3.根据权利要求2所述的暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，所述暗电平值Soff包括单个像素值或其平均值，或者是一行或多行像素的平均值，或者是一帧或多帧像素的平均值。
4.根据权利要求1所述的暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，所述图像传感器包括黑白图像传感器或彩色图像传感器。
5.根据权利要...
【技术特征摘要】
1.一种暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，所述暗电平值soff是单次采样获得的图像信号值，或者是通过两次以上采样获得的图像信号值的均值。
3.根据权利要求2所述的暗场景成像的暗电平校正方法，其特征在于，所述暗电平值soff包括单个像素值或其平均值，或者是一行或多行像素的平均值，或者是一帧或多帧像素...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚洪涛，湛游洋，孙润光，张天翔，
申请(专利权)人：长春理工大学中山研究院，
类型：发明
国别省市：
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