FPC半成品的测试方法、测试设备技术

本公开提供一种FPC半成品的测试方法、测试设备，测试方法应用于FPC半成品的测试系统中的测试设备，测试系统还包括：参考电阻、测试板、电源设备，电源设备为测试系统提供电源电压，测试板用于将待测FPC半成品中的待测器件连接至测试系统，且待测器件与参考电阻串联，测试方法包括：获得采样电压，根据电源电压、采样电压、以及参考电阻的参考电阻值，计算得到待测器件的测试电阻值，根据测试电阻值、以及获得的待测器件的标准电阻值，确定待测器件的测试结果，以有效拦截不合格的FPC半成品，提升直通率，提升整机产品的一致性。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及测试，尤其涉及一种fpc半成品的测试方法、测试设备。

技术介绍

1、在相关技术中，fpc半成品的测试主要是由供应商进行测试，并在测试合格后，将测试合格的fpc半成品提供给采购商。

2、相应的，采购商在接收到供应商提供的fpc半成品后，对fpc半成品进行组装，以得到相应的整机产品，并在得到整机产品之后，对整机产品进行检测。

3、然而，专利技术人发现在上述相关技术中，存在整机产品的合格率相对较低的问题。

4、
技术介绍
部分的内容仅仅是专利技术人个人所知晓的信息，并不代表上述信息在本公开申请日之前已经进入公共领域，也不代表其可以成为本公开的现有技术。

技术实现思路

1、本公开提供一种fpc半成品的测试方法、测试设备，用以解决上述技术问题中的至少一种。

2、第一方面，本公开提供一种fpc半成品的测试方法，所述测试方法应用于fpc半成品的测试系统中的测试设备，所述测试系统还包括：参考电阻、测试板、电源设备，所述电源设备为所述测试系统提供电源电压，所述测试板用于将待本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种FPC半成品的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于FPC半成品的测试系统中的测试设备，所述测试系统还包括：参考电阻、测试板、电源设备，所述电源设备为所述测试系统提供电源电压，所述测试板用于将待测FPC半成品中的待测器件连接至所述测试系统，且所述待测器件与所述参考电阻串联；所述测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试设备包括上位机和微控制单元MCU；所述MCU包括模数转换器ADC；其中，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试设备还包括后台服务器，所述后台服务器包括后台数据库和后台处理器，所述后台数据库用于存储所述上...

【技术特征摘要】

1.一种fpc半成品的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于fpc半成品的测试系统中的测试设备，所述测试系统还包括：参考电阻、测试板、电源设备，所述电源设备为所述测试系统提供电源电压，所述测试板用于将待测fpc半成品中的待测器件连接至所述测试系统，且所述待测器件与所述参考电阻串联；所述测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试设备包括上位机和微控制单元mcu；所述mcu包括模数转换器adc；其中，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试设备还包括后台服务器，所述后台服务器包括后台数据库和后台处理器，所述后台数据库用于存储所述上位机传输的所述测试结果；所述测试方法还包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述mcu包括两路adc；所述采样电压是基于所述两路adc中的第一路adc对所述参考电阻的电压进行采样而得到的；所述测试方法还包括：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述mcu包括n路adc，所述待测fpc半成品的数量为m个，所述测试板的引脚对数量为k对，每一引脚对用于将相应的待测pfc半成品中的待测器件连接至所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王阳，
申请(专利权)人：广东小天才科技有限公司，
类型：发明
国别省市：