一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法技术

技术编号:42368877 阅读:35 留言:0更新日期:2024-08-16 14:50
本发明专利技术提出一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法,岩体结构面形貌数据采用三维扫描仪获得,以此数据为基础,通过设定具有明确物理意义的参与计算相邻点间距以达到有效区分结构面上每一条节理的粗糙度,进而有效区分结构面的粗糙度。该方法是目前Z2s方法的改进算法,克服了目前算法在最小采样精度下计算结果不能区分结构面粗糙度的缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术提供一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法,属于岩体结构面粗糙度评估。


技术介绍

1、岩体结构面的粗糙度对其力学性质有重要的影响。诸如岩体结构面的剪切强度、岩体裂隙的渗流特性均与结构面粗糙度有着密切的关系。因此,岩体结构面粗糙度定量化表征是该领域研究的热点。统计参数表征是岩体结构面定量化描述的主要方法之一,其中一阶导数均方根z2的三维扩展是计算岩体结构面粗糙度的常用方法,其表达式为:

2、

3、式中:m为结构面中节理剖面线个数,yi为节理剖面高度坐标,n为节理剖面上离散点数目,δx为某一节理剖面线上相邻两点(yi,j,yi+1,j)的间距,如图1所示。

4、考虑岩体结构面剪切特性,上述z2s表征的粗糙度无法区分结构面正反方向剪切力学效应。为此,参照学者们提出的统计参数计算方法,改进z2s以区分结构面正反方向剪切力学性质,改进z2s见表达式(2),

5、

6、式中,为结构面正向剪切方向的z2值,m为结构面中节理剖面线个数,n+为结构面某一节理剖面线正向剪切方向满足条件yi+1,j>yi,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法,其特征在于,岩体结构面形貌数据采用三维扫描仪获得,以此数据为基础,通过设定具有明确物理意义的参与计算相邻点间距以达到有效区分结构面上每一条节理的粗糙度,进而有效区分结构面的粗糙度。

2.根据权利要求1所述的一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法,其特征在于,步骤(3)中将参数simin确定为20。

【技术特征摘要】

1.一种评估岩体结构面粗糙度统计参数计算方法,其特征在于,岩体结构面形貌数据采用三维扫描仪获得,以此数据为基础,通过设定具有明确物理意义的参与计算相邻点间距以达到有效区分结构面上每一条节理的粗糙度,进而有效区分结构面的粗糙度。

...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈世江杨付领刘建刚孙光裕
申请(专利权)人:六盘水师范学院
类型:发明
国别省市:

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