线光谱仪制造技术

本发明专利技术涉及光学测量技术领域，公开了一种线光谱仪，本发明专利技术包括从光路依次设置的狭缝、前透镜组、色散元件、后透镜组，前透镜组包括第一透镜组和第二透镜组，后透镜组包括第三透镜组和第四透镜组，色散元件位于第二透镜组与第三透镜组之间；第一透镜组、第二透镜组、第三透镜组和第四透镜组分别具有若干个透镜，第一透镜组的若干个透镜与第四透镜组的若干个透镜的种类和数量相同但排列方向相反，第二透镜组的若干个透镜与第三透镜组的若干个透镜的种类和数量相同但排列方向相反；第一透镜组与第四透镜组用于校准光路中的场曲、像散，第二透镜组与第三透镜组用于校准光路中的球差、色散及彗差。本发明专利技术提供一种大数值孔径、制造成本低的线光谱仪。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测量，特别涉及一种线光谱仪。

技术介绍

1、非接触式测量具备容易实现自动化测量、弱刚性或软性测量精度较高、测量快速等优势，非接触式测量在现在的测量领域占据重要位置。线型光谱共焦传感器在非接触式测量上具有较多的优势，线型光谱共焦传感器的应用场景也日益扩大，其中，线光谱仪是线型光谱共焦传感器中的核心器件。现有的线光谱仪存在确定的缺点，即数值孔径小、系统结构复杂以及整体系统的信噪比小，使得测量数据的可靠性较低、制造成本较高。

技术实现思路

1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种线光谱仪，能够提供一种大数值孔径、高信噪比、制造成本较低的线光谱仪。

2、根据本专利技术实施例的一种线光谱仪，包括：从物方到像方依次设置的狭缝、前透镜组、色散元件、后透镜组，所述前透镜组包括第一透镜组和第二透镜组，所述第二透镜组位于所述第一透镜组与所述色散元件之间，所述后透镜组包括第三透镜组和第四透镜组，所述第三透镜组位于所述色散元件与所述第四透镜组之间；所述第一透镜组、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种线光谱仪，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的线光谱仪，其特征在于，所述第一透镜组包括从物方到像方依次设置的第一透镜、第二透镜、第三透镜以及第四透镜，所述第二透镜组包括从物方到像方依次设置的第五透镜、第六透镜以及第七透镜，所述第三透镜组包括从物方到像方依次设置的所述第七透镜、所述第六透镜以及所述第五透镜，所述第四透镜组包括从物方到像方依次设置的所述第四透镜、所述第三透镜、所述第二透镜以及所述第一透镜。

3.根据权利要求2所述的线光谱仪，其特征在于，所述第一透镜以及所述第五透镜均为负透镜，所述第二透镜、所述第三透镜、所述第四透镜、所述第六透镜以及所述...

【技术特征摘要】

1.一种线光谱仪，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的线光谱仪，其特征在于，所述第一透镜组包括从物方到像方依次设置的第一透镜、第二透镜、第三透镜以及第四透镜，所述第二透镜组包括从物方到像方依次设置的第五透镜、第六透镜以及第七透镜，所述第三透镜组包括从物方到像方依次设置的所述第七透镜、所述第六透镜以及所述第五透镜，所述第四透镜组包括从物方到像方依次设置的所述第四透镜、所述第三透镜、所述第二透镜以及所述第一透镜。

3.根据权利要求2所述的线光谱仪，其特征在于，所述第一透镜以及所述第五透镜均为负透镜，所述第二透镜、所述第三透镜、所述第四透镜、所述第六透镜以及所述第七透镜均为正透镜。

4.根据权利要求2所述的线光谱仪，其特征在于，所述第一透镜朝向物方的面为凹面，所述第一透镜朝向像方的面为凹面或凸面；所述第二透镜朝向物方的面为凹面，所述第二透镜朝向像方的面为凸面；所述第三透镜朝向像方的面为凸面；所述第四透镜朝向物方的面为凸面；所述第五透镜朝向物方的面为凹面，所述第五透镜朝向像方的面为凹面或凸面；所述第六透镜朝向物方的面为凹面；所述第七透镜朝向像方的面为凸面。

5.根据权利要求2所述的线光谱仪，其特征在于，所述第一透镜的折射率大于1.65且小于1.85；所述第二透镜的折射率大于1.60且小于1.85；所述第三透镜的折射率大于1.60且小于1.76；所述第四透镜的折射率大于1.60且小于1.76；所述第五透镜的折射率大于1.60且小于1.85；所述第六透镜的折射率大于1.60且小于1.76；所述第七透镜的折射率大于1.65且小于1.85。

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【专利技术属性】
技术研发人员：黄凯，肖青，张晶，曾成，
申请(专利权)人：长园视觉科技珠海有限公司，
类型：发明
国别省市：