本技术公开了一种采样电阻，包括电阻体、第一引脚部和第二引脚部，所述第一引脚部设于电阻体在第一方向上的一端，第一引脚部包括第一负载引脚和第一采样引脚，第二引脚部设于电阻体在第一方向上的另一端，第二引脚部包括第二负载引脚和第二采样引脚，其中电阻体、第一引脚部及第二引脚部的材料一致且一体成型。在本技术中，将采样引脚和负载引脚分开设置，使得采样引脚受到负载热的影响降低，减少采样电阻工作中受到负载热影响对采用精度造成的不利影响，并且其引脚与电阻体材料一致、一体成型，避免拼接工艺的可控性较差导致的电阻性能不一致，从而提升电阻产品的采样精度和一致性。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电阻制造，具体涉及一种采样电阻。
技术介绍
1、现有技术中的采样电阻多为两引脚结构，这种结构在取样精准度上面会存在一定劣势，因为取样位置和负载位置都在同一个引脚上，尽管应用端的pcb焊盘设计均为单独的取样线引出，但是受到引脚负载热的影响，采样检测的精准度就会下降。并且，引脚与电阻体材质不同，增加了要到将两种材料焊接在一起的拼接工序，产品性能与纯材料电阻的性能相比，其一致性就会较低。
技术实现思路
1、因此，本技术旨在提供一种能够提升采样检测的准确性、一致性的采样电阻。
2、为解决上述技术问题，本技术提供一种采样电阻，包括：
3、电阻体；
4、第一引脚部，设于所述电阻体在第一方向上的一端，所述第一引脚部包括第一负载引脚和第一采样引脚；以及，
5、第二引脚部，设于所述电阻体在第一方向上的另一端，所述第二引脚部包括第二负载引脚和第二采样引脚；
6、其中所述电阻体、所述第一引脚部及所述第二引脚部的材料一致且一体成型。
>7、在一实施例中，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种采样电阻，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的采样电阻，其特征在于，所述第一负载引脚与所述第一采样引脚之间在第二方向上间隔设置，且所述第一负载引脚在第二方向上的尺寸大于所述第一采样引脚，所述第二负载引脚与所述第二采样引脚之间在第二方向上间隔设置，且所述第二负载引脚在第二方向上的尺寸大于所述第二采样引脚。
3.如权利要求2所述的采样电阻，其特征在于，所述第一负载引脚设有两个，两个所述第一负载引脚分设于所述第一采样引脚在第二方向上的两侧，所述第二负载引脚设有两个，两个所述第二负载引脚分设于所述第二采样引脚在第二方向上的两侧。
<p>4.如权利要求3...
【技术特征摘要】
1.一种采样电阻，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的采样电阻，其特征在于，所述第一负载引脚与所述第一采样引脚之间在第二方向上间隔设置，且所述第一负载引脚在第二方向上的尺寸大于所述第一采样引脚，所述第二负载引脚与所述第二采样引脚之间在第二方向上间隔设置，且所述第二负载引脚在第二方向上的尺寸大于所述第二采样引脚。
3.如权利要求2所述的采样电阻，其特征在于，所述第一负载引脚设有两个，两个所述第一负载引脚分设于所述第一采样引脚在第二方向上的两侧，所述第二负载引脚设有两个，两个所述第二负载引脚分设于所述第二采样引脚在第二方向上的两侧。
4.如权利要求3所述的采样电阻，其特征在于，所述采样电阻还包括塑封体，所述塑封体包覆于所述电阻体外周设置。
5.如权利要求4所述的采样电阻，其特征在于，各所述第一负载引脚与所述第一采样引脚之间分别形成第一安装槽，所述第一安装槽具有在第一方向上靠近所述电阻体的第一底部和远离所述电阻体的第一开口，其中所述第一底部被包覆于所述塑封体中，所述第一开口位于所述塑封体外。
6.如权利要求5所述的采样电阻，...
【专利技术属性】
技术研发人员：李智德，胡紫阳，邹文鉴，
申请(专利权)人：深圳市业展电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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