System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质技术_技高网

控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质技术

技术编号:42321809 阅读:21 留言:0更新日期:2024-08-14 16:02
本申请提供了一种控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质。所述控制电路检测方法包括:提供信号采样电路,用于接收由供电设备的控制电路发出的被采样信号,并根据被采样信号生成采样信号;设置第一预设采样时刻和第二预设采样时刻,第一预设采样时刻和第二预设采样时刻分别处于被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段;在第一预设采样时刻及第二预设采样时刻获取采样信号,并根据采样信号得出被采样信号高电平和被采样信号低电平。所述控制电路检测方法可以分时复用同一信号采样电路在被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段获取采样信号。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及信号检测,尤其涉及一种控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质


技术介绍

1、控制导引信号(control pilot,简称cp信号)是由交流充电桩产生,用于新能源汽车交流充电时交流充电桩与车端充电控制器通信的信号。

2、交流充电桩产品可以通过检测cp信号的幅值来判断充电逻辑。然而,目前市面上常见的cp信号检测方法步骤繁琐,硬件成本也比较高。

3、需要说明的是,上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。


技术实现思路

1、基于此,本申请实施例提供了一种控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质。

2、根据一些实施例,本申请提供了一种控制电路检测方法,包括如下步骤:

3、提供信号采样电路,用于接收由供电设备的控制电路发出的被采样信号,并根据所述被采样信号生成采样信号;

4、设置第一预设采样时刻和第二预设采样时刻,所述第一预设采样时刻和所述第二预设采样时刻分别处于所述被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段;

5、在所述第一预设采样时刻及所述第二预设采样时刻获取所述采样信号,并根据所述采样信号得出所述被采样信号高电平和所述被采样信号低电平。

6、在一些实施例中,所述第一预设采样时刻处于所述被采样信号波形的所述高电平阶段中心;所述第二预设采样时刻处于所述被采样信号波形的所述低电平阶段中心。

7、在一些实施例中,所述信号采样电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管和第二二极管;其中,所述第一电阻的第一端与所述信号采样电路的输入端相连接,用于接收所述被采样信号,所述第一电阻的第二端与第二电阻的第一端和第三电阻的第一端相连接;所述第二电阻的第二端与所述单片机相连接,所述第一二极管与所述第二电阻相并联;所述第三电阻的第二端接地,所述第二二极管与所述第三电阻相并联;所述信号采样电路的输出端位于所述第二电阻的第一端与所述第三电阻的第一端之间,用于输出所述采样信号;

8、根据所述采样信号得出所述被采样信号高电平和所述被采样信号低电平,包括如下步骤:

9、在所述被采样信号波形的所述高电平阶段,基于如下的公式计算所述被采样信号高电平:

10、v_cp1=v_cpsense*(1+r1/r3+r1/r2)-vref*r1/r2;

11、其中,所述v_cp1为所述被采样信号高电平,所述v_cpsense为所述采样信号的电压值,所述r1、所述r2和所述r3分别为第一电阻、第二电阻和第三电阻的电阻值,所述vref为所述单片机的最大测量电压;

12、在所述被采样信号波形的所述低电平阶段,基于如下的公式计算所述被采样信号低电平:

13、v_cp2=vref*r2/r3-v_cpsense*(1+r2/r4+r2/r3);

14、其中,所述v_cp2为所述被采样信号低电平。

15、在一些实施例中,所述控制电路采用单片机的定时器在中心对齐计数模式下产生所述被采样信号。

16、在一些实施例中,所述设置第一预设采样时刻和第二预设采样时刻,包括如下步骤:

17、定义所述定时器沿第一方向进行计数时的第一中断时刻为所述第一预设采样时刻;定义所述定时器沿第二方向进行计数时的第二中断时刻为所述第二预设采样时刻。

18、在一些实施例中,所述定时器的任意两个相邻的所述第一中断时刻与所述第二中断时刻之间的时间间隔范围为0.3ms~1ms。

19、在一些实施例中,获取所述采样信号之后,所述控制电路检测方法还包括如下步骤:

20、在所述被采样信号波形的所述高电平阶段,基于所述采样信号的电压值计算被采样信号高电平,若所述被采样信号高电平超出第一预设电压值范围,则判定所述控制电路存在异常;否则判定所述控制电路正常;

21、在所述被采样信号波形的所述低电平阶段,基于所述采样信号的电压值计算被采样信号低电平,若所述被采样信号低电平超出第二预设电压值范围,则判定所述控制电路存在异常;否则判定所述控制电路正常。

22、本申请还提供了一种信号采样电路,应用于如上一些实施例中所述的控制电路检测方法;所述信号采样电路被配置为:

23、所述信号采样电路的输入端接收由供电设备的控制电路发出的被采样信号,并根据所述被采样信号于所述信号采样电路的输出端生成采样信号。

24、在一些实施例中,所述信号采样电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管和第二二极管;

25、所述第一电阻的第一端与所述信号采样电路的输入端相连接,所述第一电阻的第二端与第二电阻的第一端和第三电阻的第一端相连接;

26、所述第二电阻的第二端与所述单片机相连接,所述第一二极管与所述第二电阻相并联;

27、所述第三电阻的第二端接地,所述第二二极管与所述第三电阻相并联;

28、所述信号采样电路的输出端位于所述第二电阻的第一端与所述第三电阻的第一端之间,用于输出所述采样信号。

29、本申请还提供了一种供电设备,其特征在于,包括如上一些实施例中所述的信号采样电路。

30、本申请还提供了一种计算机可读存储介质,用于存储程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现如上一些实施例中所述的控制电路检测方法的步骤。

31、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。

32、本申请实施例可以/至少具有以下优点:

33、采用本申请实施例,可以分时复用同一信号采样电路在被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段获取采样信号,不仅步骤简单易于实现,而且所需使用的电路和元器件较少,有利于降低硬件成本,减少整体可能发生的故障点,从而提升了控制电路检测的准确性和可靠性,维护和调试起来也更加简单和方便。使用同一信号采样电路还可减少所需占用的空间,有助于设备小型化设计。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种控制电路检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,所述信号采样电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管和第二二极管;其中,所述第一电阻的第一端与所述信号采样电路的输入端相连接,用于接收所述被采样信号,所述第一电阻的第二端与第二电阻的第一端和第三电阻的第一端相连接;所述第二电阻的第二端与所述单片机相连接,所述第一二极管与所述第二电阻相并联;所述第三电阻的第二端接地,所述第二二极管与所述第三电阻相并联;所述信号采样电路的输出端位于所述第二电阻的第一端与所述第三电阻的第一端之间,用于输出所述采样信号;

4.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,所述控制电路采用单片机的定时器在中心对齐计数模式下产生所述被采样信号。

5.根据权利要求4所述的控制电路检测方法,其特征在于,所述设置第一预设采样时刻和第二预设采样时刻,包括如下步骤:

6.根据权利要求5所述的控制电路检测方法,其特征在于,所述定时器的任意两个相邻的所述第一中断时刻与所述第二中断时刻之间的时间间隔范围为0.3ms~1ms。

7.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,获取所述采样信号之后,所述控制电路检测方法还包括如下步骤:

8.一种信号采样电路,其特征在于,应用于如权利要求1至7中任一项所述的控制电路检测方法;所述信号采样电路被配置为:

9.根据权利要求8所述的信号采样电路,其特征在于,包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管和第二二极管;

10.一种供电设备,其特征在于,包括如权利要求8或9中的信号采样检测电路。

11.一种计算机可读存储介质,用于存储程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的控制电路检测方法的步骤。

...

【技术特征摘要】

1.一种控制电路检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,所述信号采样电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管和第二二极管;其中,所述第一电阻的第一端与所述信号采样电路的输入端相连接,用于接收所述被采样信号,所述第一电阻的第二端与第二电阻的第一端和第三电阻的第一端相连接;所述第二电阻的第二端与所述单片机相连接,所述第一二极管与所述第二电阻相并联;所述第三电阻的第二端接地,所述第二二极管与所述第三电阻相并联;所述信号采样电路的输出端位于所述第二电阻的第一端与所述第三电阻的第一端之间,用于输出所述采样信号;

4.根据权利要求1所述的控制电路检测方法,其特征在于,所述控制电路采用单片机的定时器在中心对齐计数模式下产生所述被采样信号。

5.根据权利要求4所述的控制电路检测方法,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭小光张伟张磊
申请(专利权)人:上海广为焊接设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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