光模块测试系统、方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请适用于光通信技术领域，提供了一种光模块测试方法、装置、存储介质及设备，本申请所提供的光模块测试系统包括：测试设备响应于针对同一批次的待测试光模块的目标测试操作，控制光开关开启第一测试通道以及在光功率计测试结束后控制光开关开启第二测试通道，该目标测试操作为对同一批次的待测试光模块中第一个待测试光模块进行测试后的测试操作，第一个待测试光模块的测试过程中配置了光功率计的中心波长和光谱仪的测试模式；采用光功率计在第一测试通道开启的情况下，将测试待测试光模块得到的光功率参数值发送给测试设备；采用光谱仪在第二测试通道开启的情况下将测试待测试光模块得到的光谱仪参数值发送给测试设备。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于光通信，更具体地说，是涉及一种光模块测试系统、方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

1、随着对高质量通信服务的需求迅速增加，光通信系统中的光模块需求也显著增长。为了满足市场需求，光模块生产厂商需要增加生产能力。在光模块的生产过程中，对产品关键的光学性能参数(如发射光功率、中心波长、端面性能等)需要使用昂贵的仪器进行检测，光谱仪及光功率计作为光模块主要检测设备，应用广泛。

2、目前针对光谱仪及光功率计的使用分为手动及自动两种，目前自动化技术较为成熟，但集成测试设备后批量测试光模块产品时，每次测试时均需要重新配置参数，导致测试效率不高。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的在于提供一种光模块测试系统、方法、装置、存储介质及电子设备，旨在解决现有技术中的测试设备批量测试光模块产品时，每次测试均需要重新配置参数，导致测试效率不高的技术问题。

2、为实现上述目的，根据本申请的第一个方面，提供了一种光模块测试系统，所述光模块测试系统包括：

3、测试设备，用于响应于针对同本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光模块测试系统，其特征在于，所述光模块测试系统包括：

2.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块测试系统，其特征在于，所述光模块测试系统还包括：

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块测试系统，其特征在于，所述光模块测试系统还包括：

6.一种光模块测试方法，其特征在于，应用于光模块测试系统，所述光模块测试方法包括：

7.根据权利要求6所述的光模块测试方法，其特征在于，所述光模块测试方法还包括：<...

【技术特征摘要】

1.一种光模块测试系统，其特征在于，所述光模块测试系统包括：

2.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块测试系统，其特征在于，所述光模块测试系统还包括：

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块测试系统，其特征在于，所述光模块测试系统还包括：

6.一种光模块测试方法，其特征在于，应用于光模块测试系统，所述光模块测试方法包括：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：董琴，程陈，
申请(专利权)人：武汉宇轩飞速通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：